[发明专利]一种用于快速鉴别刚玉和α型氧化铝的方法无效
申请号: | 200810115454.8 | 申请日: | 2008-06-24 |
公开(公告)号: | CN101308085A | 公开(公告)日: | 2008-11-19 |
发明(设计)人: | 赵春芳;张树朝;褚丙武 | 申请(专利权)人: | 中国铝业股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 中国有色金属工业专利中心 | 代理人: | 李迎春 |
地址: | 100082北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 快速 鉴别 刚玉 氧化铝 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于快速鉴别刚玉和α型氧化铝的方法。
背景技术
刚玉和α-Al2O3它们广泛适用于耐火材料、磨料、陶瓷和电子等领域。α-Al2O3是通过煅烧法制取,它是以工业氢氧化铝(或工业氧化铝或用溶胶法、热解氨钒法等方法生产的高纯氧化铝)为原料,通过高温煅烧成为晶型稳定的α型氧化铝产品。而刚玉有天然形成的,也有电熔法生产的电熔刚玉,电熔刚玉是把工业氧化铝放入电弧炉中加热到熔点(2050℃)以上,全部熔融后再冷凝得到的α型氧化铝。α-Al2O3、电熔刚玉和天然刚玉的晶体结构相同,均为刚玉型结构。
通常鉴别样品的方法是X-射线衍射法,该法可以对混合物及未知物进行鉴定。但是,磨细的刚玉粉与α-Al2O3微粉,由于它们的分子式相同,晶体结构也相同,所以它们的X-射线衍射图(XRD)完全相同,因此X-射线衍射法无法鉴别该类物质。使用扫描电镜(SEM)观察颗粒的微观结构,可以鉴别,但该方法存在制样、镀膜使鉴别流程长,仪器价格昂贵等缺点,而且对于其它与此相似的物质,仅靠显微结构也无法区别。
发明内容
本发明的目的就是针对上述已有技术存在不足,提供一种测试时间短、需要样品量少,方便快捷的用于快速鉴别刚玉和α型氧化铝的方法。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的。
一种用于快速鉴别刚玉和α型氧化铝的方法,其特征在于建立刚玉和α-Al2O3的标准谱库,将测试的谱图与标准谱图对比进行鉴别。
本发明的一种用于快速鉴别刚玉和α型氧化铝的方法,其特征在于测试的谱图与标准谱图的取得过程为各取刚玉和α-Al2O3样品研磨,与磨细且烘干的溴化钾按重量比1∶200研磨混合均匀,至粒径小于2μm,放入磨具压片,用红外光谱仪测试其红外光谱图,与建立的标准谱图对比,鉴别该物质是刚玉还是α-Al2O3。
一种用于快速鉴别刚玉和α型氧化铝的方法,使用红外光谱法对不同生产方法生产的具有相同分子式,相同晶体结构,不同微观结构的刚玉和α-Al2O3进行鉴别。使用具有特征性强、测试时间短、需要样品量少,方便快捷的红外光谱法鉴别不同生产方法生产的具有相同分子式,相同晶体结构,,不同微观结构的刚玉和α型氧化铝。
附图说明
图1刚玉与α型氧化铝的X-射线衍射图;
图2刚玉与α型氧化铝的红外光谱图
具体实施方式
一种用于快速鉴别刚玉和α型氧化铝的方法,首先、分别取刚玉和α-Al2O3样品少量研磨,与磨细且烘干的溴化钾(分析纯或光谱纯)按1∶200(重量比)研磨混合均匀,至粒径小于2μm,放入磨具压片,用红外光谱仪测试其红外光谱图,与刚玉和α-Al2O3的标准谱图对比,达到快速鉴别的目的。
鉴别步骤具体为:
(1)建立刚玉和α型氧化铝的标准谱库。
(2)压制空白溴化钾片。
(3)取刚玉或α型氧化铝样品少量与磨细烘干的溴化钾(分析纯或光谱纯)按1∶200(重量比)的比例混合均匀,研磨至粒径小于2μm,放入磨具,逐渐加压,在12吨压力下,保持2分钟,缓慢降压。压成直径13mm,厚0.5mmm的试片。
(4)在相同测试条件下,测试空白溴化钾片作为背景信号,放入待测试片,采集样品信号,仪器自动将样品信号转变为红外光谱图。
(5)把试样的红外光谱图与刚玉和α型氧化铝的标准谱图进行对比,就可以快速鉴别该样品是刚玉还是α型氧化铝。
图1是刚玉和α型氧化铝的X-射线衍射图(XRD),从图1可以看出他们的晶体结构相同,XRD完全重合,无法区分。图2是刚玉和α型氧化铝的傅立叶红外变换光谱图,从图2可以看出,刚玉与α型氧化铝谱图的形状、谱带的数目、频率、带形和强度上均有差别,根据它们的这些不同可以达到快速鉴别刚玉和α型氧化铝的目的。
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