[发明专利]单齿式齿轮整体误差测量装置及方法有效
申请号: | 200810115726.4 | 申请日: | 2008-06-27 |
公开(公告)号: | CN101294868A | 公开(公告)日: | 2008-10-29 |
发明(设计)人: | 石照耀;康焱 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | G01M13/02 | 分类号: | G01M13/02 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张慧 |
地址: | 100124*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 单齿式 齿轮 整体 误差 测量 装置 方法 | ||
1、一种齿轮整体误差测量装置,其特征在于:包括有第一电机(1)、第一圆光栅(2)、只含有一个轮齿的单齿测量齿轮(4)、第二电机(5)、第一精密导轨(6)、第一直线光栅(9)、被测齿轮(7)、第二圆光栅(8)、第二直线光栅(10)、第二精密导轨(12)和第三电机(13);所述的单齿测量齿轮(4)的齿轮两侧为标准渐开线齿廓;其中:单齿测量齿轮(4)、第一圆光栅(2)和第一电机(1)依次同轴连接在第一精密密珠轴系(3)上,组成主动轴系,主动轴系的主轴与第一伺服系统(D1)连接;主动轴系固连在第一精密导轨(6)的工作台上,整个主动轴系能够随该工作台沿X方向作平移运动;第一精密导轨(6)和第二电机(5)与第二伺服系统(D2)连接,第一直线光栅(9)安装在第一精密导轨(6)上用来测量该导轨沿X方向的直线位移;被测齿轮(7)和第二圆光栅(8)同轴连接在第二精密密珠轴系(11)上,组成被动轴系;被动轴系固连在第二精密导轨(12)的工作台上,整个被动轴系能够随该工作台沿Y方向作平移运动;第二精密导轨(12)和第三电机(13)与第三伺服系统(D3)连接,第二直线光栅(10)安装在第二精密导轨(12)上用来测量该导轨沿Y方向的直线位移;第一圆光栅(2)、第二圆光栅(8)和第一直线光栅(9)、第二直线光栅(10)通过一系列前处理电路和数据采集卡G与计算机连接。
2、使用权利要求1所述的一种齿轮整体误差测量装置进行测量的方法,其特征在于,该方法是按以下步骤实现的:
1)选择被测齿轮(7)的测量截面,具体为:由计算机发指令,通过第三伺服系统(D3)控制第三电机(13),使得第二精密导轨(12)的工作台带动被测齿轮(7)沿Y方向直线运动;
2)初始化单齿测量齿轮(4)的初始位置;
3)计算机中的测量软件根据齿轮参数计算被测齿轮(7)和单齿测量齿轮(4)的安装中心距,由计算机发指令给第二伺服系统(D2),控制第二电机(5)转动,使得主动轴系随工作台沿X方向作直线运动,直至被测齿轮(7)和单齿测量齿轮(4)之间的距离为标准中心距;
4)通过第一伺服系统(D1)控制第一电机(1)驱动单齿测量齿轮(4)和被测齿轮(7)的一个轮齿作单面啮合运动,直至脱离啮合;
5)在单面啮合过程中,通过第一圆光栅(2)检测出单齿测量齿轮(4)的角位移,通过第二圆光栅(8)检测出被测齿轮(7)的角位移;
6)得到被测齿轮(7)上该轮齿的整体误差δ,具体为:其中i为被测齿轮(7)和单齿测量齿轮(4)的传动比;
7)通过第二伺服系统(D2)控制第二电机(5)使得主动轴系与被动轴系脱离;
8)重复步骤2)~步骤7),直至被测齿轮(7)的全部轮齿都测量完毕;
9)重复步骤1)~步骤8),测量被测齿轮(7)的全部轮齿的不同截面上的齿轮整体误差δ;
10)第一伺服系统(D1)控制第一电机(1)反转,重复1)~9),测量被测齿轮(7)的另一齿面的齿轮整体误差δ。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学,未经北京工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810115726.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:肉苁蓉提取物在制备治疗帕金森病药剂中的应用
- 下一篇:山药保鲜技术