[发明专利]一种提高晶硅太阳电池效率的发射极结构有效
申请号: | 200810116535.X | 申请日: | 2008-07-11 |
公开(公告)号: | CN101325224A | 公开(公告)日: | 2008-12-17 |
发明(设计)人: | 王文静;赵雷 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所 |
主分类号: | H01L31/06 | 分类号: | H01L31/06 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人: | 关玲;成金玉 |
地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 太阳电池 效率 发射极 结构 | ||
1.一种提高晶硅太阳电池效率的发射极结构,其特征在于,所述发射极结构包括一种 掺杂类型的晶硅衬底(1),在所述晶硅衬底(1)上制备的与所述晶硅衬底(1)掺杂类型相 反的晶硅层(2),在所述晶硅层(2)上制备的与所述晶硅层(2)掺杂类型相同的薄膜硅层 (3),在所述薄膜硅层(3)上制备的透明导电电极层(4),在透明导电电极层(4)上制备 的金属栅线(5);其中,所述晶硅层(2)的方块电阻在100Ω/□以上;所述薄膜硅层(3) 与晶硅衬底(1)之间的费米能级差大于所述晶硅层(2)与晶硅衬底(1)之间的费米能级 差;所述薄膜硅层(3)的厚度在1nm到20nm之间。
2.根据权利要求1所述的发射极结构,其特征在于所述的晶硅衬底(1)为单晶硅衬底 或多晶硅衬底;晶硅衬底(1)表面是平面或具有绒面减反射特征结构;所述薄膜硅层(3) 是非晶硅或纳米晶硅或微晶硅。
3.根据权利要求1或2所述的发射极结构,其特征在于在所述晶硅层(2)和所述薄膜 硅层(3)之间含有一层本征非晶硅层(6)。
4.根据权利要求3所述的发射极结构,其特征在于所述的本征非晶硅层(6)的厚度在 1nm到20nm之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的