[发明专利]提高检测近空精度的方法有效
申请号: | 200810117717.9 | 申请日: | 2008-08-04 |
公开(公告)号: | CN101644785A | 公开(公告)日: | 2010-02-10 |
发明(设计)人: | 傅军 | 申请(专利权)人: | 北京谊安医疗系统股份有限公司 |
主分类号: | G01V8/10 | 分类号: | G01V8/10;A61M5/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 尚志峰 |
地址: | 100070北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提高 检测 精度 方法 | ||
技术领域
本发明涉及检测系统,更具体地,涉及一种提高检测近空精度 的方法。
背景技术
目前,对于医疗器械注射泵的性能都有近空报警功能的检测。 常用的近空检测机构主要是通过电位器来实时采样电压值和光电开 关的开关量来判别是否近空。对于电位器的这种方案,检测精度高, 但是成本也比较高。但对于光电开关而言,对于传统的方法,其检 测精度不高。其中,近空是指在正常注射过程中,注射器内的液体 接近空的状态。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种提高检测近空精度的 方法,利用光电开关的检测,再通过校准相对量差来有效地解决检 测误差的问题。
为了解决上述现有技术中的问题,本发明提供了一种提高检测 近空精度的方法,该方法包括以下步骤:步骤一,在校准模式下, 当注射泵的运动部件上的挡光片挡住注射泵上的光电开关时记录第 一校准推进量NE1,当注射器的活塞运动到头时记录已空推进量 NE2;步骤二,根据预置的注射器的近空相对量NE0以及第一校准 推进量NE1和已空推进量NE2来计算第一校准推进量NE1与近空 相对量NE0之间的校准相对量差ΔNE;以及步骤三,在正常的注 射模式下,当挡光片挡住光电开关时记录第一推进量E1,并将注射 器的活塞运动时所记录的实时第二推进量E2与第一推进量E1差作 为工作相对量差E3与校准相对量差ΔNE进行比较,当工作相对量 差E3大于校准相对量差ΔNE时,判断注射器推进到近空状态。
其中,步骤一还包括:将注射器的活塞置于注射器的满刻度处, 并将注射器放入注射泵中;注射泵的电机开始运转,使注射器的活 塞向注射器的针头方向运动;当挡光片挡住光电开关时,记录第一 校准推进量NE1;以及当注射器的活塞运动到头时,注射泵的电机 停止运转并记录此时的已空推进量NE2。
其中,在步骤二中通过以下公式计算出校准相对量差ΔNE: ΔNE=NE2-NE1-NE0。
步骤二还包括:在挡光片挡住光电开关时,保存第一推进量E1; 以及当工作相对量差E3大于校准相对量差ΔNE时,判断注射器推 进到近空状态。
根据本发明的方法,在注射泵上设置多个光电开关。
本发明的有益效果如下:
因此,采用本发明的方法,通过光电开关的检测,然后再通过 校准相对量差来有效解决检测误差问题,从而可以很灵活地控制, 降低了产品成本。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部 分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发 明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附 图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部 分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的 限制。在附图中:
图1是根据本发明的近空检测系统的结构图;
图2是根据本发明的方法的流程图;
图3是根据本发明方法的近空校准流程图;以及
图4是根据本发明方法的正常注射的流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此 处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本 发明。
图1是根据本发明的近空检测系统的结构图。
如图1所示,该近空检测系统由注射推注机构6、检测机构2、 支撑结构3和驱动机构4构成。检测机构2光电开关2a用螺钉固定 到推注机构安装板1b上,挡光片2b安装在推注机构移动块5b上。 在注射过程中移动块5顺着注射方向运动,挡光片2b也随之前行, 当注射管6a到注射近空、已空位置时挡光片2b伸进光电开关的凹 槽中,此时,根据挡光片2b所达到的位置,相应地光电开关2a的 光敏三极管感应到信号,发送一个高电平给单片机8,单片机8通 过采样和计算来实现近空、已空的状况并指示检测机构2的报警部 分9发出报警以及显示部分10显示近空、已空的相关信息。当注射 液推注到注射已空位置时,所述检测部分发出控制信号,控制驱动 电机转动停止,注射结束。
图2是根据本发明的方法的流程图。
如图2所示,该方法包括以下步骤:
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