[发明专利]残像等级评定方法及装置无效

专利信息
申请号: 200810118781.9 申请日: 2008-08-22
公开(公告)号: CN101655409A 公开(公告)日: 2010-02-24
发明(设计)人: 张培林 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J1/10
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 代理人: 申 健
地址: 100176北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 等级 评定 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及显示技术领域,尤其涉及对显示器中产生的残像等级进行评定的方法及装置。

背景技术

平板显示器长时间停止在某一图像后,然后显示其他图像时,会留有原来图像的残像。其中,液晶显示器是由于长时间显示静止画面后,在外加电场作用下在液晶显示器内会分布有残留电荷,这些残留的电荷会影响液晶在液晶盒顶部和底部的取向,当液晶显示器显示其他图像时,液晶分子不能及时完全的发生偏转以适应新的画面,使得液晶显示器上还显示有原来的画面,从而影响了显示效果。对于等离子显示器等平板显示器,也可能出现上述的残像。

目前,对于主要是通过人眼目测的方法评价显示器出现残像的等级。首先确定出现残像的样本显示器在显示的不同图案时人眼能感觉亮度差异,然后以此亮度差异为依据确定相应的残像等级标准,从而对于其他出现残像的面板进行残像等级的评定。

通过上述描述可知,现有技术中评定残像等级的方法完全通过人眼进行目测,因为不同人之间的视觉有可能有差别,造成不同的判定个人得出存在差别的判定结果,使得判定结果存在误差。

发明内容

本发明实施例提供一种残像等级评定方法及装置,能够准确定对显示器的残像进行评定。

为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:

一种残像等级评定方法,包括:

获取显示器显示参照图案的初始亮度;

对显示器进行残像实验;

获取经过残像实验后的显示器显示参照图案的目标亮度;

计算所述目标亮度和初始亮度的亮度差值;

根据所述亮度差值确定所述显示器的残像等级。

一种残像等级评定装置,包括:

获取单元,用于获取显示器显示参照图案的亮度;

该获取单元还用于在对显示器进行残像实验后,获取经过残像实验后的显示器显示参照图案的目标亮度;

计算单元,用于计算所述目标亮度和初始亮度的亮度差值;

评定单元,用于根据所述亮度差值确定所述显示器的残像等级。

本发明实施例提供的残像等级评定方法及装置,在显示器进行残像实验之前在显示器上显示参照图案,并当显示器经过残像实验后,在显示器上也显示参照图案,并分别获取显示器显示该参照图案的亮度,即初始亮度和目标亮度,通过两次显示参照图像亮度的差值即可确定显示器的残像等级,相对于现有技术中通过人眼目测得出显示器残像等级而言,本实施例提供的残像等级评定方法及装置通过获取显示器显示该参照图案的亮度,并计算亮度的差值,保证所获取的亮度不会因人而异,提高了评定显示器残像等级的准确度。

附图说明

图1为本发明实施例中残像等级评定方法的流程图;

图2为本发明实施例中残像等级评定装置的框图;

图3为本发明实施例1中残像等级评定方法的流程图;

图4为本发明实施例1中在进行残像实验之前显示的图案;

图5为本发明实施例1中在进行残像实验时显示的图案;

图6为本发明实施例1中在消除显示器本身亮度差异后的图案;

图7为本发明实施例1中残像等级评定装置的框图;

图8为本发明实施例2中残像等级评定方法的流程图;

图9为本发明实施例2中残像等级评定装置的框图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明实施例残像等级评定方法及装置进行详细描述。

本发明实施例提供一种残像等级评定方法,通过获取显示器上显示参照图案的亮度来评定显示器的残像等级,提高了残像评定的准确度,如图1所示,该方法包括如下步骤:

101、在显示器没有进行残像实验之前在显示器上显示参照图案,并获取显示器显示参照图案的初始亮度,该参照图案可以采用全屏灰色的图案,并且该灰色的RGB颜色值最好取为(127,127,127)。

102、对显示器进行残像实验,即:控制显示器长时间显示一个静止图案,该静止图案一般为黑白相间的图案,例如:国际象棋棋盘图案(chessboardpattern)。

为了保证后续评定能够顺利进行,本实施例进行的残像实验需要使得显示器上出现残像,当暂停显示该静止图案时,仍然看不到残像,这需要继续控制显示器显示该静止图案,直到显示器上出现残像才停止显示该静止图案。

103、在经过残像实验后,即显示器上出现残像后,控制上述显示器显示参照图案,该参照图案可以采用全屏灰色的图案,并且该灰色的RGB颜色值最好取为(127,127,127)。

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