[发明专利]一种测量土壤孔隙率的方法无效
申请号: | 200810119231.9 | 申请日: | 2008-08-29 |
公开(公告)号: | CN101344474A | 公开(公告)日: | 2009-01-14 |
发明(设计)人: | 孙宇瑞;张慧娟;林剑辉;蔡祥 | 申请(专利权)人: | 中国农业大学 |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08;G01N33/24 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张国良 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 土壤 孔隙率 方法 | ||
1.一种测量土壤表面粗糙度的设备,其特征在于,该设备包括:
支架,
定位部件,固定在所述支架上,包括位于与地面平行的同一平面内的相互垂直的X轴导轨和Y轴导轨,所述Y轴导轨滑动连接在所述X轴导轨上;
测量部件,滑动连接在所述Y轴导轨上,用于测量地表任一点到X、Y轴导轨平面的距离;
控制部件,包括X轴步进电机和Y轴步进电机,其中,所述X轴步进电机与所述Y轴导轨连接,用于控制所述Y轴导轨在所述X轴导轨上滑动,所述Y轴步进电机与所述测量部件连接,用于控制所述测量部件在所述Y轴导轨上滑动;
上位机,用来发出采样点坐标定位指令;
位于X轴导轨的X轴水平调节螺栓和位于所述支架上的Y轴水平调节螺栓,用来实现所述X轴导轨和Y轴导轨的水平调节;
指示部件,位于所述X轴导轨和Y轴导轨的交叉点处,用来指示所述设备的XY轴所在的平面是否水平。
2.如权利要求1所述的测量土壤表面粗糙度的设备,其特征在于,所述指示部件为液体水平指示器。
3.如权利要求1所述的测量土壤表面粗糙度的设备,其特征在于,所述测量部件为激光测距传感仪。
4.如权利要求1所述的测量土壤表面粗糙度的设备,其特征在于,所述X轴步进电机与X轴导轨通过第一滑块连接,所述Y轴步进电机与Y轴导轨通过第二滑块连接,X轴步进电机与Y轴步进电机通过所述第一滑块与第二滑块分别在X轴导轨和Y轴导轨上滑动。
5.如权利要求1所述测量土壤表面粗糙度的设备,其特征在于,所述设备还包括固定于所述支架上的移动部件,用于实现整个设备的 移动。
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