[发明专利]一种以分光光度法测定微量有机硅中硅含量的方法无效
申请号: | 200810120493.7 | 申请日: | 2008-09-08 |
公开(公告)号: | CN101393131A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | 刘今强;宋兆伟;李萍;邵敏 | 申请(专利权)人: | 浙江理工大学 |
主分类号: | G01N21/78 | 分类号: | G01N21/78;G01N21/31 |
代理公司: | 杭州裕阳专利事务所(普通合伙) | 代理人: | 江助菊 |
地址: | 310018浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 分光光度法 测定 微量 有机硅 含量 方法 | ||
1.一种以分光光度法测定微量有机硅中硅含量的方法,其特征在于具体步骤如下:(1)将有机硅样品放入已恒重镍坩埚中,并置于马弗炉中,逐渐升温至700℃灼烧四小时;取出冷至室温,加氢氧化钠,重新置于马弗炉中,从室温逐渐升至550℃熔融30分钟,转化为无机可溶性硅;在水相中pH=1~1.5条件下,与钼酸铵溶液反应生成硅钼酸铵,稳定10min,加混酸,所述的混酸的制备方法是:溶解5g抗坏血酸和1g柠檬酸于100ml超纯水中,须在临用前新鲜配制;还原生成硅钼蓝而显色,稳定25min,加酸调节pH在0.5以下,稳定显色液后测试吸光度;测试吸光度时,选择491nm处的吸光度为基底,在硅钼蓝最大吸收波长811nm处测试吸光度;(2)对一组已知浓度的标准硅溶液,采用步骤(1)的方式分别测得吸光度,然后以吸光度为纵坐标,以硅浓度为横坐标,建立标准工作曲线图;根据标准工作曲线图,求得有机硅中硅的含量。
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