[发明专利]一种以分光光度法测定微量有机硅中硅含量的方法无效

专利信息
申请号: 200810120493.7 申请日: 2008-09-08
公开(公告)号: CN101393131A 公开(公告)日: 2009-03-25
发明(设计)人: 刘今强;宋兆伟;李萍;邵敏 申请(专利权)人: 浙江理工大学
主分类号: G01N21/78 分类号: G01N21/78;G01N21/31
代理公司: 杭州裕阳专利事务所(普通合伙) 代理人: 江助菊
地址: 310018浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 分光光度法 测定 微量 有机硅 含量 方法
【权利要求书】:

1.一种以分光光度法测定微量有机硅中硅含量的方法,其特征在于具体步骤如下:(1)将有机硅样品放入已恒重镍坩埚中,并置于马弗炉中,逐渐升温至700℃灼烧四小时;取出冷至室温,加氢氧化钠,重新置于马弗炉中,从室温逐渐升至550℃熔融30分钟,转化为无机可溶性硅;在水相中pH=1~1.5条件下,与钼酸铵溶液反应生成硅钼酸铵,稳定10min,加混酸,所述的混酸的制备方法是:溶解5g抗坏血酸和1g柠檬酸于100ml超纯水中,须在临用前新鲜配制;还原生成硅钼蓝而显色,稳定25min,加酸调节pH在0.5以下,稳定显色液后测试吸光度;测试吸光度时,选择491nm处的吸光度为基底,在硅钼蓝最大吸收波长811nm处测试吸光度;(2)对一组已知浓度的标准硅溶液,采用步骤(1)的方式分别测得吸光度,然后以吸光度为纵坐标,以硅浓度为横坐标,建立标准工作曲线图;根据标准工作曲线图,求得有机硅中硅的含量。

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