[发明专利]一种化学镀镍液中亚磷酸根浓度的测定方法无效
申请号: | 200810122256.4 | 申请日: | 2008-11-06 |
公开(公告)号: | CN101413912A | 公开(公告)日: | 2009-04-22 |
发明(设计)人: | 卢建树 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学 |
主分类号: | G01N27/26 | 分类号: | G01N27/26 |
代理公司: | 杭州天正专利事务所有限公司 | 代理人: | 黄美娟;王 兵 |
地址: | 310014浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 化学 镀镍液 中亚 磷酸 浓度 测定 方法 | ||
1.一种化学镀镍液中亚磷酸根浓度的测定方法,其特征在于所述的 方法是将化学镀镍液用去离子水稀释n倍至钠离子浓度为0-23g/L, 作为测试样品,再以电位法测定所述测试样品的钠离子摩尔浓度:以 钠离子选择性电极为测量电极,以甘汞电极为参比电极,以精确到毫 伏的电位表测定所述测试样品的电位值,测得测试样品的钠离子摩尔 浓度记为M[Na+]样品,根据测试样品的钠离子摩尔浓度得出化学镀镍液 中钠离子浓度为:
M[Na+]=n×M[Na+]样品 (13)
再根据化学镀镍液中化学计量关系,推测出化学镀镍液中的亚磷 酸根浓度M[H2PO3-],所述的n为正数;
所述的化学镀镍液中化学计量关系为:
M[H2PO3-]≈3/5M[Na+]-3/5M[Na+]原配液 (12)
式(12)中M[H2PO3-]表示化学镀镍液中亚磷酸根浓度,M[Na+]表示化 学镀镍液中钠离子浓度,M[Na+]原配液表示化学镀镍原配镀液中钠离子 摩尔浓度;
所述以电位法测定所述测试样品的钠离子摩尔浓度的方法为所述的 电位表与单片机连接,所述的单片机即时采集电位表上电位值V的数 据,并通过以下(14)式计算出测试样品的钠离子摩尔浓度:
-logM[Na+]样品=0.0207V-0.235 (14)
再根据式(13)及式(12)的关系式计算得化学镀镍液中亚磷酸根浓 度;所述的单片机连接着显示器,所述的显示器即时显示所述的在线 的化学镀镍液中亚磷酸根浓度。
2.如权利要求1所述的化学镀镍液中亚磷酸根浓度的测定方法,所 述的钠离子选择性电极为6801型钠离子选择性电极。
3.如权利要求1所述的化学镀镍液中亚磷酸根浓度的测定方法,所 述的甘汞电极为6802型饱和甘汞参比电极。
4.如权利要求1所述的化学镀镍液中亚磷酸根浓度的测定方法,所 述的电位表为pHS-25型电位/pH计。
5.一种化学镀镍液中亚磷酸根浓度的测定方法的专用装置,所述的 装置包括钠离子选择性电极、甘汞电极、精确到毫伏的高阻电位表、 单片机及与单片机连接的显示器,所述单片机输入端与电位表输出端 连接,所述的单片机的输出端连接着显示器,所述的单片机采集电位 表上电位值的数据并按式(12)、(13)、式(14)的关系在单片机输 出端输出化学镀镍液中亚磷酸根浓度M[H2PO3-],并显示在显示器上;
-logM[Na+]样品=0.0207V-0.235 (14)
M[Na+]=n×M[Na+]样品 (13)
M[H2PO3-]≈3/5M[Na+]-3/5M[Na+]原配液 (12)。
6.如权利要求5所述的化学镀镍液中亚磷酸根浓度的测定方法的专 用装置,其特征在于所述的装置还包括钠离子测试池、计量泵、纯水 补液罐,所述的钠离子测试池分别与化学镀槽与纯水补液罐通过计量 泵连通,所述的钠离子选择性电极、甘汞电极与钠离子测试池配合连 接、所述的高阻电位表与钠离子选择性电极、甘汞电极分别电连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江工业大学,未经浙江工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810122256.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:降低紧邻无线通信单元间频道干扰的装置
- 下一篇:光电的半导体元件