[发明专利]一种光中子－X射线违禁品检测方法及系统

权利要求书

1.一种光中子-X射线违禁品检测方法，用于检测一被检物体，该方法包括：

同时产生第一X射线束和光中子；

利用所述第一X射线束对被检物体进行X射线成像检测；

在进行所述X射线成像检测的同时，利用所述光中子、根据光中子与被检物体反应所发出的特征性γ射线对被检物体进行中子检测，

其中，所述光中子是由第二X射线束轰击光中子转换靶产生，

其中，所述第一和第二X射线束是从同一X射线主束中分出的，

其中，用所述光中子转换靶从所述X射线主束中分出所述第一X射线束。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述光中子转换靶具有供所述第一射线束穿过的通道。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，

所述X射线成像检测生成被检物体的X射线图像，所述中子检测生成被检物体的中子图像；

将所述X射线图像和所述中子图像合并，使得中子图像和X射线图像中对应于被检测物体同一位置的点完全重合。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述X射线图像反映所述被检物体的密度信息，所述中子图像反映所述被检物体的元素分布信息。

5.一种光中子-X射线违禁品检测系统，用于检测被检物体，该系统包括：

X射线发生器，用于产生X射线主束，所述X射线主束包括从其分出的第一X射线束和第二X射线束，所述第一X射线束被引导进入该被检物体并穿过该被检物体；

光中子转换靶，该光中子转换靶布置成接收所述第二X射线束，从而产生光中子，所述光中子被引导进入该被检物体，并与所述被检物体反应发出特征性γ射线；

X射线探测装置，该X射线探测装置布置成接收穿过该被检物体后的所述第一X射线束，以便对该被检物体进行X射线成像检测；

γ射线探测装置，该γ射线探测装置布置成接收所述特征性γ射线，以便根据所述特征性γ射线对该被检物体进行中子检测；

其中，所述系统同时对所述被检物体进行所述X射线成像检测和所述中子检测，以及

其中，所述光中子转换靶具有长型本体，该本体具有第一端部和第二端部，所述第二X射线束进入所述本体内部，并沿着从第一端部至第二端部的方向传播。

6.根据权利要求5所述的系统，其中，所述X射线发生器产生的所述X射线主束为具有特定频率的X射线脉冲。

7.根据权利要求6所述的系统，其中，所述特定频率在50Hz至250Hz的范围内和/或所述X射线脉冲的脉宽约为5μs。

8.根据权利要求5所述的系统，其中，所述X射线发生器包括：

电子加速器，用于产生电子束；和

电子靶，所述电子束射向该电子靶，以产生所述X射线主束。

9.根据权利要求8所述的系统，其中，所述电子束为具有特定频率的电子束脉冲，所述电子加速器以所述特定频率产生该电子束脉冲，从而使得所述X射线主束为具有所述特定频率的X射线脉冲。

10.根据权利要求8所述的系统，其中，所述电子加速器产生的所述电子束的能量在1MeV～15MeV。

11.根据权利要求10所述的系统，其中，所述电子加速器产生的所述电子束的能量至少为1.67MeV。

12.根据权利要求5所述的系统，其中，所述光中子转换靶的材料为铍或重水。

13.根据权利要求5所述的系统，其中，所述光中子转换靶的本体的形状设计成与所述X射线发生器产生的所述X射线主束的强度分布基本上相匹配，使得强度大的X射线能在光中子转换靶的本体内传播更远的距离。

14.根据权利要求13所述的系统，其中，所述X射线主束的强度分布为轴对称分布，其限定了一强度分布对称轴线；

所述光中子转换靶的所述本体的形状构造成关于一靶对称轴线成轴对称；

在使用时，所述靶对称轴线与所述强度分布对称轴线重合。

15.根据权利要求5所述的系统，其中，所述本体的至少一部分为渐缩部分，该渐缩部分朝着所述第二端部渐缩。

16.根据权利要求15所述的系统，其中，所述渐缩部分终止于所述第二端部。