[发明专利]可重新载入检测程序的待测机器、机器检测系统及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种机器检测系统与检测方法，尤其涉及一种可重新载入检测程序的待测机器、机器检测系统及检测方法。

背景技术

随着科技的进步与提升，各种电子产品或机器不断地推陈出新，且其设计越来越趋于复杂和多功能化。然而为响应市场的快速变迁及大量需求，制造商莫不努力于以最高效率及最低的成本产制各种电子产品或机器以供市场需求。其中，对于电子产品或机器在出厂前的检测更是各家制造商所努力改善的重点之一。一般而言，由于这类电子产品或机器的检测系统相当复杂且需时常更换，因此在整个检测作业的相关检测程序的扩充与检测程序的维护工作上，必须面对相当的困难度与不便性。产品制造商在进行检测工作的扩充及维护时，往往需耗费极大的时间与人力。再者，加以无法预知各种电子产品或机器的检测作业于未来可能的发展，从而在进行检测作业的系统结构及功能性模块的相关设计时，无法对该检测作业的扩充性多加考虑。

然而现行电子产品或机器，例如多功能事务机、复印机、传真机、打印机的检测作业，为增加其便利性，已知有一种预先在制造工序中将检测程序存储于电子产品或机器的微控器内装ROM(可编程只读存储器)或检查用ROM内，而于电源开启以及外部检测系统输入检测命令时，即由电子产品或机器的中央处理单元(CPU)执行该检测程序来检测电子产品或机器各部元件或功能正常与否的方法。

图1A与图1B分别简易地显示使用于传统机器检测系统的待测机器以及内含于该待测机器的可执行程序的结构示意图。如图1A与图1B所示，使用于传统机器检测系统的待测机器1(或称待测机板1)将可执行程序110存储于待测机器1内的一非易失性存储器(ROM)11中。当待测机板1启动电源且接收到外部的机器检测系统所输入的检测命令后，可执行程序110可于该非易失性存储器11内直接执行，或者是通过中央处理单元12被搭载至随机存取存储器单元13中执行。其中该非挥发性存储器11内的可执行程序110由一般目的程序码111与检测程序码112所共同编译/汇编(compiler orassembler)与链接(Linker)而得。该可执行程序110在一般的使用环境下，由一般目的程序码111部分所构成的一般目的程序运作与执行；而在测试环境下，则由检测程序码112部分所构成的检测程序运作与执行。其中该检测程序部分只有在生产测试时才会用到，其他阶段，例如出货到客户或顾客端时，此检测程序部分便永远不会被执行且恒存储于非易失性存储器11中，因此此种做法会造成非易失性存储器11与随机存取存储器单元13使用空间的浪费与负担。

另一方面，当研发人员或检测人员想要修改原先的检测程序以检测待测机器1的其他元件及功能时，必须重新烧录更新后的可执行程序110再重新检测，如此不只过程繁复且有损坏待测机器1的元件与功能的风险。况且当自动生产测试所需要的检测程序与一般目的程序并存或同时包含于可执行程序110时，所有检测程序所需的修改就必须重新释出更新版本，如此将会增加再次产品验证的成本。通常，电子产品或机器制造商多应客户的要求而进行电子产品或机器的制造，然而对客户而言，欲对其已承认或验证的固件(Firmware)进行修改的可能性是很低的。当电子产品或机器制造商在测试过程中发现检测程序出现问题而需要修改时，必须取得客户的同意，但通常客户同意的机会不高，这是因为客户多不愿意承担再次验证及损坏机器元件与功能的风险，所以要修正检测程序的机会是非常低的，而且，即使客户同意修改，但往复的沟通、修改与验证时间常常会造成产品出货时程的延误与成本的增加。更甚者，现有技术将一般目的程序与测试程序一起包含于可执行程序110的做法，不仅会增加机器固件(Firmware)的大小，对于非易失性存储器11与随机存取存储器单元13的使用也会增加，进而造成资源上的浪费与负担。