[发明专利]跟踪误差信号检测设备和光盘装置

说明书

交叉参考相关申请

本申请包含与2007年6月29日向日本专利局提出的日本专利申请第JP 2007-171689号有关的主题，特此全文引用以供参考。

技术领域

本发明涉及利用例如应用在光盘装置中的DPD(微分相位检测)方法的 跟踪误差(TE)检测设备以及光盘装置。

背景技术

一般说来，光控制器包括应用DPD方法的TE(跟踪误差)检测设备， 以便生成ROM(只读存储器)盘中的跟踪误差信号。应用DPD方法的TE 检测设备目前利用高速工作和具有高精度的模拟电路实现(参照例如日本专 利第3336778号、日本待审专利申请公布第57-191839号、日本待审专利申 请公布第57-191433号、日本待审专利申请公布第63-148433号、日本待审专 利申请公布第07-296395号、日本待审专利申请公布第63-131334号、日本专 利第3065993号、日本专利第3439393号、日本待审专利申请公布第2006- 260645号以及日本专利第3769888号)。

响应最近系统LSI(大规模集成)技术的发展，人们开发出了综合模拟 信号处理和数字信号处理，以便利用相同芯片进行模拟信号处理和数字信号 处理的技术。这种技术也应用于光盘的控制器芯片。响应这样数字信号处理 的技术，迫切需要在应用DPD方法的TE检测设备中集成化，以便获得数字 芯片。

为了满足这样的需要，下文描述三种技术作为第一到第三例子。

第一例子

按照第一例子，通过模拟电路技术，以混合方式将通过模拟电路设计的 DPD电路“按原样”安装在数字芯片上。

具体地说，如上面列出的专利文件所公开的那样，通过模拟电路技术在 数字芯片上实现构成一般使用的配置的高频提升电路(均衡器)、二进制化器 (限幅器)以及边缘比较型相位比较器。

在这种情况下，高频提升电路(均衡器)的所需数量和二进制化器(限 幅器)的所需数量对应于DPD电路的计算信道的数量(2或4个)。

就微分相位检测而言，未必配备高频提升电路(均衡器)。但是，当应用 边缘比较型相位比较器时，高频提升电路是进行适当二进制化所必需的。

二进制化器(限幅器)和边缘比较型相位比较器用于抑制依赖于RF(射 频)振幅的TE灵敏度的变化。振幅相关灵敏度变化通过检测边缘上的相差 来抑制。

边缘比较型相位比较器应该包括能够消除噪声和消除由于例如由歪斜和 散焦(OTF(光传递函数)的变化)引起的高频特性(f特性)的变差、噪声 以及非对称生成的假边缘和震颤，以便获得实用TE灵敏度的机构。因此， 实现边缘消除机构，以便具有异步反馈电路的配置。

第二例子

将公开在日本待审专利申请公布第57-191839号中的应用模块校正检测 方法的技术当作第二例子。

在第二例子中，应用了包括90°相移器、乘法器以及LPF(低通滤波器) 的全模拟电路。

在上述的第一例子中，在适当进行二进制化之后，进行边缘的相位比较。 但是，在第二例子中，在适当进行二进制化之后，进行波形的相位比较(校 正计算)。因此，在按照第二例子的技术中，大型高频提升电路基本上没有必 要。

由于在按照第二例子的技术中未应用边缘比较型相位比较器，具有异步 反馈电路的配置的消除假边缘和震颤的机构是多余的。

第三例子

将用数字信号处理电路取代一般使用的和通过高速模拟电路实现的DPD 电路的技术当作第三例子(参照例如日本专利第3439393号和日本待审专利 申请公布第2006-260645号)。

在这种技术中，配备了A/D转换器、高频提升和补偿电路、过零发生器 以及过零相位比较器，并且它们按这个次序工作。第三例子的配置是通过用 数字信号处理系统取代第一例子的模拟处理系统获得的。

发明内容

用在上述第一例子中的高频提升电路(均衡器)是利用高阶传递函数配 置的，因此，存在其电路尺寸大，元件灵敏度高以及高频提升电路不用于应 用变化大的精细CMOS(互补金属氧化物半导体)工艺的模拟电路的问题。

而且，当例如从最内圆周到最外圆周进行全面寻找操作时，和当RF的 频率变化相当大时，应该按照频率变化改变传递函数的极点和零点。但是， 难以精确地进行这种操作。