[发明专利]电容式触控装置及其检测方法

说明书

技术领域

本发明是有关一种电容式触控装置及其检测方法。

背景技术

在传统应用上，大尺寸电容式触控屏幕皆使用表面电容式(surfacecapacitive)感测技术，但表面电容式感测技术是利用流向银幕各端点的一组电流不同来判别手指的位置，因此当触碰触控面板的手指数为二指以上时，回报电流组数仍为一组，故仅能辨别一组绝对坐标位置，例如在二维矩阵时仅能回报一组X，Y参数，因而无法达到多指触控的功能。

所有触点可定位(All Points Addressable；APA)型阵列电容式感测技术虽然可以达到多指触控的功能，但是其需要对每个点感测器(Point Sensor)进行充放电的动作，以矩阵形状的触控面板来说，当X轴及Y轴的感应线(trace)增加时，APA型阵列电容式的像素数目将急剧增加，因而造成取像速度(framerate)下降，故不适用于大尺寸触控面板的应用。

另一种轴交错(Axis Intersect；AI)型阵列电容式感测技术也同样能达到多指触控的功能。图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术，其包括一小尺寸触控面板10以及一AI型阵列电容式触控IC 12扫描触控面板10，以一最大可支持扫描22条感应线的AI型阵列电容式触控IC12为例来说，虽然应用在X轴及Y轴各有10条感应线TRX1～TRX10及TRY1～TRY10的小尺寸触控面板10时取像速度还不错，但是若要将AI型阵列电容式触控IC 12应用于X轴及Y轴各有40条感应线TRX1～TRX40及TRY1～TRY40的大尺寸触控面板14时，如图2所示，则必须增加AI型阵列电容式触控IC 12可扫描的总感应线数量，然而，触控IC 12每次对电容充放电所花费的时间占整体触控面板应用上的取像速度的比例非常大，也就是说取像速度问题主要由IC 12每个框(frame)对电容充放电所决定，故以增加可扫描感应线数的方法应用于大尺寸触控面板14将会有一非常大的缺点，就是整体应用上的取像速度将会严重下降，进而影响应用端的效能。

发明内容

本发明的目的，在于提出一种电容式触控装置及其检测方法。

本发明提供一种电容式触控装置，所述的装置包括一触控面板、一第一轴交错型阵列电容式触控集成电路及一第二轴交错型阵列电容式触控集成电路，该触控面板具有多条感应线，该多条感应线中的第N条感应线同时连接第一轴交错型阵列电容式触控集成电路与第二轴交错型阵列电容式触控集成电路，但该第一及第二轴交错型阵列电容式触控集成电路不同时对该第N条感应线充放电，当该第一轴交错型阵列电容式触控集成电路对该第N条感应线充放电时，该第N条感应线对于该第二轴交错型阵列电容式触控集成电路的关系为浮接或高阻抗，当该第二轴交错型阵列电容式触控集成电路对该第N条感应线充放电时，该第N条感应线对于该第一轴交错型阵列电容式触控集成电路的关系为浮接或高阻抗。本发明以感应线重叠布局方式解决因使用二个以上的集成电路扫描该触控面板时产生的边界问题，并利用两集成电路对于同一条感应线的读值差异，在后端取用时修正彼此间读值的落差；此外，使用此二读值经滤波后的值作为该条感应线的读值，噪声所造成的影响亦可获得改善。

本发明还提供一种电容式触控装置检测方法，所述的电容式触控装置包含一触控面板具有多条感应线，一第一轴交错型阵列电容式触控集成电路用以对所述的多条感应线中的第N条感应线充放电，以及一第二轴交错型阵列电容式触控集成电路用以对所述的第N条感应线充放电，所述的检测方法包括下列步骤：当所述的第一轴交错型阵列电容式触控集成电路对所述的第N条感应线充放电时，让所述的第N条感应线对于所述的第二轴交错型阵列电容式触控集成电路的关系为浮接或高阻抗；以及当所述的第二轴交错型阵列电容式触控集成电路对所述的第N条感应线充放电时，让所述的第N条感应线对于所述的第一轴交错型阵列电容式触控集成电路的关系为浮接或高阻抗。

附图说明

图1显示传统应用在小尺寸触控面板的AI型阵列电容式感测技术；

图2显示传统AI型阵列电容式感测技术应用在大尺寸触控面板上的情形；

图3显示一种使用二颗以上AI型阵列电容式触控IC扫描触控面板的电容式触控装置；

图4显示图3的局部放大图；

图5显示本发明的第一实施例；

图6显示本发明的第二实施例；以及

图7显示本发明的第三实施例。

附图标号：

10    触控面板

12    触控IC

14    触控面板