[发明专利]图像检测装置及驱动图像检测器的方法无效
申请号: | 200810128876.9 | 申请日: | 2008-06-24 |
公开(公告)号: | CN101335842A | 公开(公告)日: | 2008-12-31 |
发明(设计)人: | 冈田美广 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | H04N5/32 | 分类号: | H04N5/32;H04N3/15 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 张成新 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 检测 装置 驱动 检测器 方法 | ||
1.一种图像检测装置,包括:
图像检测器,所述图像检测器配备有检测部,所述检测部具有电荷产生部、存储电容器以及薄膜晶体管开关元件,所述电荷产生部接收用于记录的电磁波辐射并产生电荷,两个电极被设置在所述存储电容器中以彼此相对,该存储电容器积累在所述电荷产生部所产生的电荷,并且在该存储电容器中,根据所积累的电荷量,关于作为参考的一个电极的电势,另一个电极的电势随之改变,所述薄膜晶体管开关元件用于读出被积累在所述存储电容器中的电荷;
电源部,所述电源部被连接以使得能够向所述一个电极施加电压;以及
控制部,所述控制部控制从电源部施加给所述一个电极的电压,以于在被积累在所述存储电容器中的电荷被从所述图像检测器中读出之前的预定时间段,促进来自开关元件的漏电流的流动。
2.根据权利要求1所述的图像检测装置,其中,所述控制部进行控制使得所述电压在所述预定时间段被施加到所述一个电极,其中所述预定时间段为从用于记录的电磁波被照射到所述图像检测器上之后直到所述电荷被从所述图像检测器读出之前的时间段。
3.根据权利要求1所述的图像检测装置,其中,所述控制部进行控制使得所述电压在预定时间段被施加到所述一个电极,所述预定时间段包括用于记录的电磁波被照射到所述图像检测器上所持续的时间段。
4.根据权利要求1所述的图像检测装置,其中,所述开关元件被设置成使得,当电荷被积累在所述存储电容器中并且所述另一个电极的电势变得大于或等于给定值时,电流流动。
5.根据权利要求1所述的图像检测装置,其中,所述电源部被设置在外围电路衬底上,所述外围电路衬底被与所述图像检测器相分离地设置。
6.根据权利要求1所述的图像检测装置,还包括信号检测器,所述信号检测器通过检测从所述图像检测器的检测部读出的电荷信号的电势而检测所积累的电荷量,其中,在检测所述电荷信号的电势时,参考电极线的电势和构成所述存储电容器的一部分的所述一个电极的电势为相同的电势水平,所述参考电极线为所述信号检测器检测的参考。
7.根据权利要求1所述的图像检测装置,其中,所述预定时间段为从100μs到1s。
8.一种图像检测装置,包括:
图像检测器,所述图像检测器配备有检测部,所述检测部具有电荷产生部、存储电容器以及薄膜晶体管开关元件,所述电荷产生部接收用于记录的电磁波辐射并产生电荷,两个电极被设置在所述存储电容器中以彼此相对,该存储电容器积累在所述电荷产生部所产生的电荷,并且在该存储电容器中,根据所积累的电荷量,关于作为参考的一个电极的电势,另一个电极的电势随之改变,所述薄膜晶体管开关元件用于读出被积累在所述存储电容器中的电荷;以及
电压施加电路,在被积累在所述存储电容器中的电荷被从所述图像检测器中读出之前的预定时间段,通过所述电压施加电路对所述一个电极进行电压施加;所述电压施加电路向所述一个电极施加受控电压,以改变来自所述开关元件的漏电流。
9.根据权利要求8所述的图像检测装置,其中,所述预定时间段为在用于记录的电磁波被照射到所述图像检测器上之后的时间段。
10.根据权利要求8所述的图像检测装置,其中,所述预定时间段包括用于记录的电磁波被照射到所述图像检测器上所持续的时间段。
11.根据权利要求7所述的图像检测装置,其中,所述开关元件被设置成使得,当电荷被积累在所述存储电容器中并且所述另一个电极的电势变得大于或等于给定值时,电流流动。
12.根据权利要求7所述的图像检测装置,其中,所述电压施加电路被设置在外围电路衬底上,所述外围电路衬底被与所述图像检测器相分离地设置。
13.根据权利要求7所述的图像检测装置,还包括信号检测器,所述信号检测器通过检测从所述图像检测器的检测部读出的电荷信号的电势而检测所积累的电荷量,其中,在检测所述电荷信号的电势时,参考电极线的电势和构成所述存储电容器的一部分的所述一个电极的电势为相同的电势水平,所述参考电极线为所述信号检测器检测的参考。
14.根据权利要求7所述的图像检测装置,其中,所述预定时间段为从100μs到1s。
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