[发明专利]存储装置及其测试方法有效
| 申请号： | 200810129037.9 | 申请日： | 2008-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN101615433A | 公开（公告）日： | 2009-12-30 |
| 发明（设计）人： | 吴祥煌;李日农 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/14 | 分类号： | G11C29/14 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储 装置 及其 测试 方法 | ||
1. 一种存储装置，包含：
存储器阵列单元，包含：
值存储器阵列，用于储存值比特；以及
屏蔽存储器阵列，耦接至该值存储器阵列，用于储存屏蔽比特以屏蔽该 值存储器阵列；以及
测试模块，耦接至该存储器阵列单元，用以根据测试规则来产生测试模 式信号至该存储器阵列单元，以执行存储器测试；
其中，该测试规则包括M个用于测试该值存储器阵列的第一测试片段， 及N个用于测试该屏蔽存储器阵列的第二测试片段，该M个第一测试片段与 该N个第二测试片段在该测试规则中交错排列，M与N为大于或等于2的整 数。
2. 根据权利要求1所述的存储装置，其中，该测试模块包含：
比较器，用以比较预设值与输出值，以确定该存储器阵列是否有误；
其中，该输出值由该存储器阵列单元输出。
3. 根据权利要求1所述的存储装置，其中，该存储器阵列单元为一个三 元内容可寻址存储器。
4. 根据权利要求1所述的存储装置，其中，这些第一测试片段与这些第 二测试片段利用测试算法，且该测试算法为跨步测试算法。
5. 根据权利要求1所述的存储装置，其中，这些第一测试片段与这些第 二测试片段利用测试算法，且该测试算法为跨步C+测试算法。
6. 根据权利要求1所述的存储装置，其中，这些第一测试片段与这些第 二测试片段中的每一个包括地址方向、读取动作及写入动作中的至少一个。
7. 根据权利要求1所述的存储装置，应用于网络交换器中。
8. 一种测试方法，适用于测试存储器阵列单元，该存储器阵列单元包括 值存储器阵列及屏蔽存储器阵列，该测试方法包含以下步骤：
产生测试模式信号至该存储器阵列单元，以进行存储器测试，其中，该 测试模式信号具有测试规则；以及
根据该存储器阵列单元的输出值以产生测试结果；
其中，该测试规则包括M个用于测试该值存储器阵列的第一测试片段， 及N个用于测试该屏蔽存储器阵列的第二测试片段，该M个第一测试片段与 该N个第二测试片段在该测试规则中交错排列，M与N为大于或等于2的整 数。
9. 根据权利要求8所述的测试方法，其中，根据该存储器阵列单元的输 出值以产生测试结果的步骤包含以下步骤：
将该输出值与预设值进行比较，以确定该存储器阵列单元是否发生错误。
10. 根据权利要求8所述的测试方法，其中，该存储器阵列单元为一个 三元内容可寻址存储器。
11. 根据权利要求8所述的测试方法，其中，这些第一测试片段与这些 第二测试片段利用测试算法，且该测试算法为跨步测试算法。
12. 根据权利要求8所述的测试方法，其中，这些第一测试片段与这些 第二测试片段利用测试算法，且该测试算法系为跨步C+测试算法。
13. 根据权利要求8所述的测试方法，其中，这些第一测试片段与这些 第二测试片段中的每一个包括地址方向、读取动作及写入动作中的至少一个。
14. 根据权利要求8所述的测试方法，应用于网络交换器中。
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