[发明专利]缺陷管理区域的位置确定方法有效

专利信息
申请号: 200810129614.4 申请日: 2002-12-24
公开(公告)号: CN101369443A 公开(公告)日: 2009-02-18
发明(设计)人: 山本义一;伊藤基志;植田宏 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李家麟;王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 管理 区域 位置 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种用于确定信息记录媒体的缺陷管理区域位置的方法,其中,该信息记录媒体包括:

其中将要记录用户数据的用户数据区域;

其中将要记录第一缺陷管理信息的第一缺陷管理信息区域,所述第一缺陷管理信息用于管理在用户数据区域内存在的缺陷区域;和

其中将要记录第二缺陷管理信息的第二缺陷管理信息区域,所述第二缺陷管理信息具有与所述第一缺陷管理信息相同的内容;

其中:

θ1=(D1*N)/(2*π*r)*360(Mod 360),

θ2=(D2*N)/(2*π*r)*360(Mod 360),

θ1是当以第一记录密度D1将用户数据记录在用户数据区域内时相对于第一信息记录媒体的中心由第一缺陷管理信息区域的起始块的头部和第二缺陷管理信息区域的起始块的头部形成的角度;

θ2是当以第二记录密度D2将用户数据记录在用户数据区域内时相对于第二信息记录媒体的中心由第一缺陷管理信息区域的起始块的头部和第二缺陷管理信息区域的起始块的头部形成的角度;

N是在第一缺陷管理信息区域的起始块和第二缺陷管理信息区域的起始块之间存在的块数,并且是自然数,

r是第一缺陷管理信息区域距离信息记录媒体的中心的径向距离,

以第一记录密度D1记录在所述第一信息记录媒体中的N和以第二记录密度D2记录在所述第二信息记录媒体中的N是相同值,和

在找到满足150°≤θ1≤210°和150°≤θ2≤210°的关系的N之后确定在所述第一信息记录媒体和在所述第二信息记录媒体中的所述第一缺陷管理信息区域的位置和所述第二缺陷管理信息区域的位置。

2.一种用于再生信息记录媒体的方法,其中通过如权利要求1所述的确定方法来确定所述缺陷管理区域的位置,该方法包括:

从所述第一缺陷管理区域再生所述第一缺陷管理信息或者从所述第二缺陷管理区域再生所述第二缺陷管理信息。

3.一种用于在信息记录媒体上进行记录的方法,其中通过如权利要求1所述的确定方法来确定所述缺陷管理区域的位置,该方法包括:

在所述第一缺陷管理区域内记录所述第一缺陷管理信息或者在所述第二缺陷管理区域内记录所述第二缺陷管理信息。

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