[发明专利]电路分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电路分析方法，主要对取样参数及模拟结果进行运算，以推算出各个元件的贡献度。

背景技术

请参阅图1，为现有电路分析方法的步骤流程图。一般在进行电路的分析时，需要对电路上的所有元件进行取样(sampling)并产生多组取样参数，例如以蒙地卡罗(Monte Carlo Sampling)的方式进行取样，其中每一组取样参数皆相对应于电路上的某一元件，且每一组取样参数中皆包括有多个参数，如步骤11所示。

在得知取样参数后可进一步对取样参数进行模拟以产生多个模拟结果，例如以模拟器(simulator)对取样参数进行模拟，并产生相对应的模拟结果，如步骤13所示。而后使用者将可以进一步对取样参数与模拟结果进行分析及应用，如步骤15所示。

在进行模拟时需要对大量的取样参数进行模拟，以提高模拟结果的正确性。然而随着取样参数数量的增加，势必会增加模拟的困难度及所花费的模拟时间，例如使用者需要对每一个不同的电路进行取样，并分别对取样参数进行模拟以产生模拟结果。

发明内容

本发明的主要目的，在于提供一种电路分析方法，主要对取样参数及模拟结果进行线性回归的运算，藉此以得知各个取样参数及元件的贡献度。

本发明的次要目的，在于提供一种电路分析方法，可由线性回归的结果取得电路上各个元件的贡献度，并依据贡献度对相似电路进行元件的选择，藉此将可减少需要进行取样的元件数目。

本发明的又一目的，在于提供一种电路分析方法，其中通过减少需要进行取样的元件数目及需要进行模拟的取样参数的数目，将可提高对相似电路进行分析的效率。

本发明的又一目的，在于提供一种电路分析方法，可依据线性回归的结果将贡献度最低的取样参数删除，并对其余的取样参数及模拟结果再次进行线性回归运算，将可避免在运算的过程中误删贡献度大的取样参数。

本发明的又一目的，在于提供一种电路分析方法，可利用一般的四则运算消除取样参数内各个参数之间的倍数关系，藉此将可有效率的进行参数的取样。

为达成上述目的，本发明提供一种电路分析方法，其特征在于，主要包括有以下步骤：

对多个元件进行取样，并产生多组取样参数；

对该取样参数进行模拟，并产生多个模拟结果；及

将该取样参数及该模拟结果进行线性回归的运算，并推算出该取样参数的贡献度。

所述的电路分析方法，其中，包括有以下步骤：删除贡献度最低的取样参数。

所述的电路分析方法，其中，删除的取样参数的数量为一组以上。

所述的电路分析方法，其中，包括有以下步骤：对剩下的取样参数及该模拟结果进行线性回归的运算。

所述的电路分析方法，其中，包括有以下步骤：将贡献度最低的取样参数的贡献度与其它取样参数的贡献度进行比对。

所述的电路分析方法，其中，包括有以下步骤：依据比对的结果决定是否删除贡献度最低的取样参数。

所述的电路分析方法，其中，各组取样参数皆包括有多个参数。

所述的电路分析方法，其中，包括有以下步骤：消除各个参数之间的相关性。

所述的电路分析方法，其中，该参数之间存在有一倍数关系，并通过四则运算将该参数间的倍数关系消除。

所述的电路分析方法，其中，该取样参数相对应于该元件，并由该取样参数的贡献度得知该元件的贡献度。

所述的电路分析方法，其中，包括有以下步骤：依据该元件的贡献度进行电路分析。

所述的电路分析方法，其中，该取样参数及该模拟结果皆为矩阵。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为现有电路分析方法的步骤流程图；

图2为本发明电路分析方法一较佳实施例的步骤流程图；

图3为本发明电路分析方法又一实施例的步骤流程图；

图4为本发明电路分析方法又一实施例的步骤流程图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本发明的技术方案作进一步更详细的描述。

请参阅图2，为本发明电路分析方法一较佳实施例的步骤流程图。如图所示，本发明所述的电路分析方法，主要是对多组取样参数及多个模拟结果进行线性回归的运算，藉此以得到模拟结果及元件的贡献度(rank)。