[发明专利]测试装置无效

专利信息
申请号: 200810131232.5 申请日: 2008-08-01
公开(公告)号: CN101639515A 公开(公告)日: 2010-02-03
发明(设计)人: 蔡竹青 申请(专利权)人: 环隆电气股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿 宁;张华辉
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种测试装置,特别是涉及一种能同时测试多个待测板(Unit Under Test,UUT)的测试装置。其是利用,而成为一种相当具有实用性及进步性的新设计,适于产业界广泛推广应用。

背景技术

图1是现有已知一种测试装置的方框图。请参照图1,现有已知测试装置100包括一主机电脑(Host PC)110、一测试板120以及一现场即时资讯系统(Shop Floor Information System,SFIS)130。主机电脑110是电性连接至测试板120与现场即时资讯系统130,而测试板120用以电性连接至一待测板50。

现有技术的测试步骤是通过主机电脑110启动测试流程,并藉由测试板120对待测板50进行测试。测试完成后,主机电脑110会将测试结果传送至现场即时资讯系统130,而现场即时资讯系统130会储存测试结果。

现有技术中,每一测试板120是用以测试特定的待测板50,所以在测试不同待测板50时需更换测试板120。此外,由于每一待测板50包括多个待测部分,所以若待测板50有升级时,通常需研发新的延伸卡、在测试板120上新增元件或是重新设计测试板120,以完整测试待测板50的每一待测部分。特别是,若待测板50具有主动元件(如局域网路(Local AreaNetwork,LAN)芯片)时,往往需要更换另一测试板或是新增元件。

由于现有技术需研发许多测试板120,所以较耗费成本。此外,在测试不同待测板50时,需更换测试板120,所以较为费时。另外,在现有技术中,主机电脑110无法同时测试多个待测板50,导致测试时间过长。

基于上述内容,现有技术具有测试成本高且测试时间长的缺点。

由此可见,上述现有的测试装置在结构与使用上,显然仍存在有不便与缺陷,而亟待加以进一步改进。为了解决测试装置存在的问题,相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道,但长久以来一直未见适用的设计被发展完成,而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题,此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种可兼具体积小、成本低且使用时可具有全方位调整功能的新型结构的测试装置,实属当前重要研发课题之一,亦成为当前业界极需改进的目标。

有鉴于上述现有的测试装置存在的缺陷,本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识,并配合学理的运用,积极加以研究创新,以期创设一种新型结构的测试装置,能够改进一般现有的测试装置,使其更具有实用性。经过不断的研究、设计,并经反复试作样品及改进后,终于创设出确具实用价值的本发明。

发明内容

本发明的目的在于,克服现有的测试装置存在的缺陷,而提供一种新型结构的测试装置,所要解决的技术问题是使其以降低测试成本及测试时间,从而更加适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种测试装置,其适于测试至少一待测板。该测试装置包括一远端连接单元、至少一可编程测试板(Programmable Testing Board)以及一主控电脑(Master Control PC)。可编程测试板是连接至远端连接单元,而主控电脑是连接至远端连接单元。待测板适于连接至可编程测试板,且可编程测试板具有一可编程系统芯片(System On Programmable Chip,即SOPC)。主控电脑内存有预设的多个测试流程,且主控电脑适于根据待测板的种类来选取对应待测板的测试流程,并控制可编程测试板对待测板进行测试。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的测试装置,其更包括一现场即时资讯系统,连接至主控电脑。

前述的测试装置,其更包括至少一扩充单元,其中可编程测试板是通过扩充单元而连接到待测板。

前述的测试装置,其中所述的可编程系统芯片为一现场可编程逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)。

前述的测试装置,其中所述的远端连接单元为一集线器(Hub)或一接入点(Access Point,AP)。

前述的测试装置,其中所述的主控电脑是通过一无线传输方式而连接至连接介面。

前述的测试装置,其中所述的无线传输方式包括一无线网路、一蓝牙(Bluetooth)、一红外线或是一无线通用序列汇流排(Wireless UniversalSerial Bus,Wireless USB)。

前述的测试装置,其中所述的可编程测试板具有多个连接介面。

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