[发明专利]具测试架构的液晶显示装置及相关测试方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种具测试架构的液晶显示装置及相关测试方法，尤指一种可提供精确缺陷检测的具测试架构的液晶显示装置及相关测试方法。

背景技术

液晶显示装置(Liquid Crystal Display；LCD)是目前广泛使用的一种平面显示器，其具有外型轻薄、省电以及无辐射等特征。液晶显示装置的工作原理是利用改变液晶层两端的电压差来改变液晶层内的液晶分子的排列状态，藉以改变液晶层的透光性，再配合背光模块所提供的光源以显示影像。

在目前高分辨率显示设计的要求下，液晶显示装置中的组件尺寸不断地缩小，期能提高组件积集度，所以微小缺陷或微粒对液晶显示装置的质量影响也日趋严重，使得液晶显示装置的工艺越来越不容易达到高生产合格率的目标。因此，为维持产品质量的稳定，通常在液晶显示装置的生产过程中，亦须针对所生产的液晶显示装置进行缺陷检测，一方面可淘汰不良品，另一方面可根据检测结果来分析造成缺陷的原因，之后才能进一步地藉由工艺参数的调整或生产环境的改善来避免或减少缺陷的产生。换句话说，能实时地对生产过程所产生的缺陷做出分析，找出缺陷发生的原因，并加以排除，不但已成为品保技术的核心能力之一，更是快速开发高质量液晶显示装置工艺的关键。

一般而言，为使液晶显示装置具有广视角的特性，在一个像素单元内会设计两个子像素单元，相对应于两子像素单元的两条伽玛曲线(Gamma Curve，亦称为灰阶曲线)，经由灰阶平均效应，可在不同视角产生最佳视觉效果，即具有高质量广视角特性。通常液晶显示装置的短路缺陷发生在相邻子像素单元之间，所以如何精确地检测出相邻子像素单元之间的短路缺陷实为生产过程的重要关键技术之一。然而在习知的检测短路缺陷测试方法中，只能检测部分相邻子像素单元之间的短路缺陷，因此无法提供完整的缺陷检测信息以及时淘汰所有不良品，而缺陷检测结果的分析也难以提供足够信息以改良工艺提高合格率。

发明内容

依据本发明的实施例，其揭露一种液晶显示装置，包含多条数据线、多条栅极线、多条共享电极线及多列像素单元。每一条数据线用以接收对应数据信号。每一条栅极线用以接收对应栅极信号。多条奇数共享电极线用以接收第一共享电压，多条偶数共享电极线用以接收第二共享电压。每一列像素单元包含多个像素单元，奇数列像素单元的多个像素单元耦合于对应奇数共享电极线，偶数列像素单元的多个像素单元耦合于对应偶数共享电极线。

依据本发明的实施例，其另揭露一种用以测试液晶显示装置的测试方法，被测试的液晶显示装置包含多条第一栅极线、多条第二栅极线、多条数据线、多条第一共享电极线、及多条第二共享电极线，此测试方法包含：于第一时段，供应栅极致能信号至该些第一栅极线及该些第二栅极线，供应第一测试电压至该些数据线的一数据线，供应第一共享测试电压至该些第一共享电极线，供应第二共享测试电压至该些第二共享电极线；于第二时段，供应栅极致能信号至该些第一栅极线，供应栅极除能信号至该些第二栅极线，供应第二测试电压至该数据线，供应第一共享测试电压至该些第一共享电极线，供应第二共享测试电压至该些第二共享电极线；以及于第三时段，供应栅极除能信号至该些第一栅极线及该些第二栅极线，供应第三共享测试电压至该些第二共享电极线。

附图说明

图1为本发明第一实施例液晶显示装置的示意图；

图2为依图1的液晶显示装置执行本发明第一测试方法的工作相关信号测试波形示意图，其中横轴为时间轴；

图3为根据图2所示的相关信号以检测图1的液晶显示装置的第一测试方法流程图；

图4为图1的液晶显示装置在无缺陷状况下，经图2的波形测试后的子像素电压示意表列；

图5为依图1的液晶显示装置执行本发明第二测试方法的工作相关信号测试波形示意图，其中横轴为时间轴；

图6为根据图5所示的相关信号以检测图1的液晶显示装置的第二测试方法流程图；

图7为图1的液晶显示装置在无缺陷状况下，经图5的波形测试后的子像素电压示意表列；

图8为本发明第二实施例液晶显示装置的示意图。

【主要组件符号说明】

400、800               液晶显示装置

410、810               栅极线

420、820               数据线

430、830               共享电极线

440、840               像素单元

441、841               第一开关