[发明专利]一种嵌入式金属栅极薄膜晶体管无效
申请号: | 200810133222.5 | 申请日: | 2008-07-14 |
公开(公告)号: | CN101630691A | 公开(公告)日: | 2010-01-20 |
发明(设计)人: | 李秋德 | 申请(专利权)人: | 和舰科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L27/12;G02F1/1362 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人: | 屈小春 |
地址: | 215025江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 嵌入式 金属 栅极 薄膜晶体管 | ||
1.一种嵌入式金属栅极薄膜晶体管,其特征在于,包括玻璃基板内的嵌入式沟槽,其中依次排列金属栅极、栅介电质、非晶硅层,以及非晶硅层两侧的有源区,该薄膜晶体管的上部与玻璃基板的上部共面。
2.根据权利要求1所述的一种嵌入式金属栅极薄膜晶体管,其特征在于,上述嵌入式沟槽通过光阻工艺或蚀刻工艺形成。
3.根据权利要求1所述的一种嵌入式金属栅极薄膜晶体管,其特征在于,上述金属栅极的材料为铜。
4.根据权利要求1所述的一种嵌入式金属栅极薄膜晶体管,其特征在于,上述金属栅极的材料为铝。
5.根据权利要求1所述的一种嵌入式金属栅极薄膜晶体管,其特征在于,上述栅介电质为氮化硅绝缘膜。
6.根据权利要求1所述的一种嵌入式金属栅极薄膜晶体管,其特征在于,上述有源区为氮掺杂非晶硅。
7.根据权利要求1所述的一种嵌入式金属栅极薄膜晶体管,其特征在于,在该薄膜晶体管的源极部分使用钼,漏极部分使用氧化铟锡。
8.根据权利要求1-7中任一项所述的一种嵌入式金属栅极薄膜晶体管,其特征在于,上述金属栅极的厚度由金属可填入嵌入式沟槽的厚度决定。
9.根据权利要求8所述的一种嵌入式金属栅极薄膜晶体管,其特征在于,上述金属栅极的厚度为交错式结构厚度的三倍以上。
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