[发明专利]半导体器件及其制造方法有效
申请号: | 200810133942.1 | 申请日: | 2008-07-18 |
公开(公告)号: | CN101452902A | 公开(公告)日: | 2009-06-10 |
发明(设计)人: | 高桥典之 | 申请(专利权)人: | 株式会社瑞萨科技 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L23/495;H01L23/31;H01L21/50;H01L21/60;H01L21/56 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体器件,包括:
芯片安装部分;
多条悬挂引线,其与所述芯片安装部分集成,且每个均具有缝 隙;
半导体芯片,其具有其上形成有多个电极的主表面并安装在所 述芯片安装部分上方;
多条内部引线,其布置在所述半导体芯片周围;
多条公共引线,其与所述悬挂引线集成,并且分别定位在所述 芯片安装部分与所述内部引线之间;
多条第一导线,耦合所述半导体芯片的所述电极与所述内部引 线;
多条第二导线,耦合所述半导体芯片的所述电极与所述公共引 线;
密封体,用于密封所述半导体芯片、所述芯片安装部分、所述 第一导线和所述第二导线;以及
多条外部引线,其分别与所述内部引线集成,并且从所述密封 体暴露,
其中每个公共引线的宽度小于每个悬挂引线的宽度,其中所述 每个悬挂引线的宽度是包括缝隙的总宽度。
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中在所述悬挂引线中, 所述缝隙形成在所述公共引线所耦合的部分中。
3.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述芯片安装部分 的尺寸比所述半导体芯片中与主表面相对的背部表面的尺寸更小。
4.一种用于制造半导体器件的方法,所述方法包括步骤:
(a)提供引线框架,所述引线框架包括:芯片安装部分,多条 悬挂引线,其与所述芯片安装部分集成并且每条均具有缝隙,多条 引线,其布置在所述芯片安装部分周围,以及多条公共引线,其与 所述悬挂引线集成且定位于所述芯片安装部分和所述引线之间,其 中每个公共引线的宽度小于每个悬挂引线的宽度,其中所述每个悬 挂引线的宽度是包括缝隙的总宽度;
(b)在所述芯片安装部分上方安装半导体芯片,其中所述半导 体芯片具有其上形成有多个电极的主表面;
(c)经由用于所述公共引线的多条导线,耦合所述半导体芯片 的所述电极与所述公共引线;
(d)经由用于所述引线的多条导线,耦合所述半导体芯片的所 述电极与所述引线;
(e)利用树脂密封所述半导体芯片、所述芯片安装部分、用于 所述公共引线的导线以及用于所述引线的导线。
5.根据权利要求4所述的方法,其中在所述引线框架布置在加 热键合台上方以及利用夹持器来夹持所述引线的情况下执行所述步 骤(c)和(d)。
6.根据权利要求5所述的方法,其中在所述悬挂引线未利用夹 持器夹持的情况下执行所述步骤(c)和(d)。
7.根据权利要求4所述的方法,其中在所述引线框架中,所述 悬挂引线形成有偏移部分,所述偏移部分分别在所述芯片安装部分 侧而不是在所述公共引线所耦合的各自部分上。
8.一种半导体器件,包括:
芯片安装部分;
多条悬挂引线,其与所述芯片安装部分集成;
半导体芯片,其具有其上形成有多个电极的主表面并且安装在 所述芯片安装部分上方;
多条内部引线,其布置在所述半导体芯片周围;
多条公共引线,其与所述悬挂引线集成,并且分别定位在所述 芯片安装部分与所述内部引线之间;
多条第一导线,耦合所述半导体芯片的所述电极与所述内部引 线;
多条第二导线,耦合所述半导体芯片的所述电极与所述公共引 线;
密封体,用于密封所述半导体芯片、所述芯片安装部分、所述 第一导线和所述第二导线;以及
多条外部引线,其分别与所述内部引线集成,并且从所述密封 体暴露;
其中每个公共引线的宽度小于每个悬挂引线的宽度,其中所述 每个悬挂引线的宽度是包括缝隙的总宽度;以及
其中所述内部引线中的一些耦合至所述公共引线。
9.根据权利要求8所述的半导体器件,其中所述芯片安装部分 的尺寸比所述半导体芯片中与主表面相对的背部表面的尺寸更小。
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