[发明专利]半导体激光元件无效

专利信息
申请号: 200810134056.0 申请日: 2008-07-24
公开(公告)号: CN101355232A 公开(公告)日: 2009-01-28
发明(设计)人: 广山良治;野村康彦;畑雅幸;三宅泰人 申请(专利权)人: 三洋电机株式会社
主分类号: H01S3/22 分类号: H01S3/22;H01S5/323
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 刘春成
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 激光 元件
【说明书】:

技术领域

发明涉及半导体激光元件,特别涉及具有由氮化物类半导体构 成的基板的半导体激光元件。

背景技术

在现有技术中已知有具有由氮化物构成的基板的半导体激光元 件。例如,在日本特开2003-133649号公报和日本特开2002-29897号 公报中公开有这种半导体激光元件。

在上述日本特开2003-133649号公报中公开了一种在基板上设置 有包括光波导的半导体层的半导体激光元件,该基板包括在相对于主 表面垂直的方向上延伸的位错集中区域。已知该位错集中区域与其他 部分相比其电阻较高。

另外,在上述日本特开2002-29897号公报中公开有包括在与主表 面平行的方向上延伸的线状的贯通位错的基板。

另外,已知在半导体激光元件中,存在光从半导体层的光波导向 基板侧泄漏的情况。

但是,在日本特开2003-133649号公报所公开的历来的半导体激光 元件中,在光从半导体层的光波导向基板侧泄漏的情况下,存在在垂 直横模的基板侧出现强的峰值(基板模)的问题。

发明内容

根据本发明的一个方面的半导体激光元件包括:由氮化物类半导 体构成的基板;和在基板的主表面上形成的光波导,基板包括以相对 于基板的主表面沿倾斜方向延伸的方式配置的位错集中区域,光波导 以位于位错集中区域的上方,并且位于基板的主表面中的除去出现位 错集中区域的部分的区域上的方式形成。

附图说明

图1为从[1-100]方向看的表示本发明的第一实施方式的半导体激 光元件的结构的截面图。

图2为从[1-100]方向看的用于说明第一实施方式的半导体激光元 件的基板的制造工序的截面图。

图3为从[1-100]方向看的用于说明第一实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。

图4为从[1-100]方向看的用于说明第一实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。

图5为从[1-100]方向看的用于说明第一实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。

图6为从[1-100]方向看的用于说明第一实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。

图7为表示比较例的半导体激光元件的结构的截面图。

图8为表示比较例的半导体激光元件的垂直横模的图。

图9为表示第一实施方式的激光元件的垂直横模的图。

图10为从[1-100]方向看的表示第一实施方式的半导体激光元件的 变形例的结构的截面图。

图11为从[0001]方向看的表示本发明的第二实施方式的半导体激 光元件的结构的截面图。

图12为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的基板的制造工序的平面图。

图13为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。

图14为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。

图15为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。

图16为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。

图17为从[0001]方向看的表示第二实施方式的半导体激光元件的 变形例的结构的截面图。

图18为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的变形例的基板的制造工序的平面图。

具体实施方式

以下,根据附图,对将本发明具体化的实施方式进行说明。

(第一实施方式)

首先,参照图1,对第一实施方式的半导体激光元件100的结构进 行说明。

如图1所示,第一实施方式的半导体激光元件100为发射405nm 的蓝紫色激光的激光元件,包括:基板10、半导体层20、p侧欧姆电 极29、电流阻挡(block)层30、p侧垫式(pad)电极31、n侧欧姆 电极41和n侧垫式电极42。

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