[发明专利]半导体激光元件无效
申请号: | 200810134056.0 | 申请日: | 2008-07-24 |
公开(公告)号: | CN101355232A | 公开(公告)日: | 2009-01-28 |
发明(设计)人: | 广山良治;野村康彦;畑雅幸;三宅泰人 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | H01S3/22 | 分类号: | H01S3/22;H01S5/323 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘春成 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 激光 元件 | ||
技术领域
本发明涉及半导体激光元件,特别涉及具有由氮化物类半导体构 成的基板的半导体激光元件。
背景技术
在现有技术中已知有具有由氮化物构成的基板的半导体激光元 件。例如,在日本特开2003-133649号公报和日本特开2002-29897号 公报中公开有这种半导体激光元件。
在上述日本特开2003-133649号公报中公开了一种在基板上设置 有包括光波导的半导体层的半导体激光元件,该基板包括在相对于主 表面垂直的方向上延伸的位错集中区域。已知该位错集中区域与其他 部分相比其电阻较高。
另外,在上述日本特开2002-29897号公报中公开有包括在与主表 面平行的方向上延伸的线状的贯通位错的基板。
另外,已知在半导体激光元件中,存在光从半导体层的光波导向 基板侧泄漏的情况。
但是,在日本特开2003-133649号公报所公开的历来的半导体激光 元件中,在光从半导体层的光波导向基板侧泄漏的情况下,存在在垂 直横模的基板侧出现强的峰值(基板模)的问题。
发明内容
根据本发明的一个方面的半导体激光元件包括:由氮化物类半导 体构成的基板;和在基板的主表面上形成的光波导,基板包括以相对 于基板的主表面沿倾斜方向延伸的方式配置的位错集中区域,光波导 以位于位错集中区域的上方,并且位于基板的主表面中的除去出现位 错集中区域的部分的区域上的方式形成。
附图说明
图1为从[1-100]方向看的表示本发明的第一实施方式的半导体激 光元件的结构的截面图。
图2为从[1-100]方向看的用于说明第一实施方式的半导体激光元 件的基板的制造工序的截面图。
图3为从[1-100]方向看的用于说明第一实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。
图4为从[1-100]方向看的用于说明第一实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。
图5为从[1-100]方向看的用于说明第一实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。
图6为从[1-100]方向看的用于说明第一实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。
图7为表示比较例的半导体激光元件的结构的截面图。
图8为表示比较例的半导体激光元件的垂直横模的图。
图9为表示第一实施方式的激光元件的垂直横模的图。
图10为从[1-100]方向看的表示第一实施方式的半导体激光元件的 变形例的结构的截面图。
图11为从[0001]方向看的表示本发明的第二实施方式的半导体激 光元件的结构的截面图。
图12为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的基板的制造工序的平面图。
图13为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。
图14为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。
图15为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。
图16为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的制造工序的截面图。
图17为从[0001]方向看的表示第二实施方式的半导体激光元件的 变形例的结构的截面图。
图18为从[0001]方向看的用于说明第二实施方式的半导体激光元 件的变形例的基板的制造工序的平面图。
具体实施方式
以下,根据附图,对将本发明具体化的实施方式进行说明。
(第一实施方式)
首先,参照图1,对第一实施方式的半导体激光元件100的结构进 行说明。
如图1所示,第一实施方式的半导体激光元件100为发射405nm 的蓝紫色激光的激光元件,包括:基板10、半导体层20、p侧欧姆电 极29、电流阻挡(block)层30、p侧垫式(pad)电极31、n侧欧姆 电极41和n侧垫式电极42。
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