[发明专利]边界扫描测试连接装置、方法以及系统

权利要求书

1.一种边界扫描测试连接装置，其特征在于，设有多个电平区，包括：

第一电平区，设置有用于与测试设备连接的测试接口；

N个第二电平区，分别设置有用于与被测单元的一菊花单链连接的测试接口以及电压控制接口；其中，所述电压控制接口与外部电平连接，基于所述外部电平控制其所在第二电平区测试接口所输出信号的电平，以支持各菊花单链对于不同工作电平的要求；所述N大于1，所述菊花单链由要求相同工作电平的JTAG器件连接构成；

所述第一电平区测试接口的TDI端口接收所述测试设备输入的TDI信号，在所述连接装置连接有M条菊花单链的情况下，连通一连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口；所述第二电平区测试接口的TDO端口连通下一连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口，依次类推，直至连通第M个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口；

所述第M个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDO端口连通所述第一电平区测试接口的TDO端口，用于向测试设备输出TDO信号；

且，所述第一电平区测试接口TDI和TDO以外的端口同时连通全部第二电平区测试接口的相应端口，

其中，所述第一电平区测试接口和第二电平区测试接口分别包括TDI、TMS、TCK和TDO端口，或者，所述第一电平区测试接口和第二电平区测试接口分别包括TDI、TMS、TCK、TRST和TDO端口。

2.根据权利要求1所述的边界扫描测试连接装置，其特征在于，所述连接装置为可编程逻辑器件。

3.根据权利要求2所述的边界扫描测试连接装置，其特征在于，所述可编程逻辑器件为具有多电平BANK的芯片，每一个BANK上设置一个或多个电平区，其中，设置在一个BANK上的第二电平区合设电压控制接口，使所述BANK上的第二电平区测试接口输出的信号具有相同的电平。

4.一种边界扫描测试方法，适用于对被测单元的JTAG器件进行边界扫描测试；其特征在于，包括以下步骤：

S1、识别所述JTAG器件的工作电平，分别将要求相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链；

S2、将上述获得的菊花单链连接到如权利要求1-3任一所述边界扫描测试连接装置对应电平的第二电平区，并赋予所述第二电平区相应外部电平；

S3、将测试设备连接到如权利要求1-3任一所述边界扫描测试连接装置的第一电平区；

S4、所述测试设备向所述连接装置输入测试信号，并根据所述连接装置输出的测试信号识别边界扫描结果。

5.根据权利要求4所述的边界扫描测试方法，其特征在于，所述步骤S1中将相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链的步骤包括：将前一JTAG器件的TDO端口与后一JTAG器件的TDI端口连接，最前JTAG器件的TDI端口和最后JTAG器件的TDO端口分别作为所述菊花单链的TDI端口和TDO端口。

6.根据权利要求4所述的边界扫描测试方法，其特征在于，所述步骤S1之后还包括：

SA1、统计获得的任一菊花单链中JTAG器件的数目；

SA2、如果超出预设的阈值，则按照所述阈值将所述菊花单链拆分为多条菊花单链；

SA3、如果未超出预设的阈值，则保持当前菊花单链结构。

7.一种边界扫描测试系统，包括被测单元和测试设备；其特征在于，还包括：

如权利要求1-3任一所述的边界扫描测试连接装置；

其中，所述被测单元中要求相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链，所述菊花单链分别连接到所述连接装置对应电平的第二电平区，所述第二电平区与相应外部电平连接；

所述测试设备连接到所述连接装置的第一电平区，通过向所述连接装置输入测试信号，并根据所述连接装置输出的测试信号识别边界扫描结果。

8.根据权利要求7所述的边界扫描测试系统，其特征在于，所述菊花单链的结构为：前一JTAG器件的TDO端口与后一JTAG器件的TDI端口连接，最前JTAG器件的TDI端口和最后JTAG器件的TDO端口分别作为所述菊花单链的TDI端口和TDO端口。

9.根据权利要求7所述的边界扫描测试系统，其特征在于，还包括单链拆分单元，与所述被测单元连接，用于统计获得的任一菊花单链中JTAG器件的数目，如果超出预设的阈值，则按照所述阈值将所述菊花单链拆分为多条菊花单链；如果未超出预设的阈值，则保持当前菊花单链结构。