[发明专利]闪存管理装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体存储介质领域，特别涉及一种闪存管理装置及方法。

背景技术

闪存介质(Flash)包括多个存储块简称块(Block，擦除闪存介质的基本单位)，每个块包括多个页(Page，读写闪存介质的基本单位)，每个页包括多个位(bit，取值为0或1)。可以实现取值从0到1和从1到0的逆转换的位是可以使用的，称为好位；否则认为是不可使用的坏位。

由于生产工艺和技术的限制，生产大容量闪存介质可能产生大量容量不足或有瑕疵的闪存介质，称为次片闪存介质(CM Flash)。对次片闪存介质进行筛选，取尚可使用的次片闪存介质，屏蔽掉其中不可使用的块即可做为正常闪存介质使用。

现有技术对所有次片闪存介质都进行扫描以实现筛选。由于并非所有次片闪存介质都可以通过屏蔽成为可用的闪存介质，而扫描次片闪存介质需较长时间，如果对所有次片闪存介质都扫描会浪费资源。目前已有的扫描技术判断某块是否好块的做法是将某块擦除，然后写数据到该块，再从每一页中读出数据，与写入的数据相比较。当某页中超过预定数量的位出现写入和读出的数据不相同，则认为该页是坏页；否则认为该页是好页。同理，当某块中超过预定数量的页为坏页，则认为该块是坏块；否则认为该块是好块。对于包含较少坏块的闪存介质，采用上述扫描方法就可以顺利完成识别；而对于次片闪存介质只进行一次扫描不能保证发现所有的坏块，现有技术采用多次扫描的方式找出所有坏块，效率低耗时长。

现有技术同时对多个次片闪存介质进行扫描时，如果发现不可使用的次片闪存介质，操作人员需将其从测试架上取出；为使操作人员找到该不可使用的次片闪存介质，需要对操作人员给出其在测试架上的位置。而在实际生产过程中，由于每个闪存介质扫描所需时间不同，若对多个闪存介质同时扫描就必须等所有闪存介质都扫描完，才能进行下一步操作，可能浪费时间，影响生产效率。

现有扫描技术一个扫描进程只支持单个闪存介质的测试，在进行大批量扫描时会进一步影响生产效率。

随着闪存介质技术和应用的快速发展，闪存介质容量越来越大，对闪存 介质扫描效率和闪存介质良率的要求也越来越高。采用上述现有技术能全面准确地完成扫描，但对多个大容量次片闪存介质进行扫描往往需要耗费大量时间，效率较低不适于实际生产应用；现有另一种扫描技术可以提高扫描速度，但无法全面找出坏块，扫描结果准确度和可靠性不强。

发明内容

本发明的目的在于提供一种针对次片闪存介质的闪存管理装置及方法，以实现对次片闪存介质的快速准确筛选和处理。

本发明提出一种闪存管理装置，包括：用于控制筛选处理的控制器；根据控制器的控制对次片闪存介质分别进行筛选处理，并对筛选得到的至少一次片闪存介质分别进行扫描处理的至少一测试架；和将至少一测试架与控制器连接，建立至少一次片闪存介质与控制器的数据传输通道的USB接口装置。

优选地，上述至少一测试架还对经过扫描处理的至少一次片闪存介质判断是否可用。

优选地，上述筛选处理由所述控制器、至少一测试架和USB接口装置配合，通过鉴别从次片闪存介质中读取的识别码实现和/或通过对次片闪存介质读写比较实现。

优选地，上述的闪存管理装置对至少一次片闪存介质分别分配线程，进行筛选过程和/或处理过程。

优选地，上述至少一测试架包括：用于与USB接口装置连接，建立数据传输通道的接口；用于与次片闪存介质连接并交换数据的卡座；用于将测试架与USB接口装置连接导通或切断的开关；和分别与接口、卡座和开关分别连接并交换数据的基板。

优选地，上述至少一测试架还包括：设置在基板上，根据对次片闪存介质的筛选结果发出提示信号的提示单元。

本发明还提出一种闪存管理方法，包括：分别对至少一次片闪存介质进行筛选处理步骤；和对筛选得到的至少一次片闪存介质分别进行扫描处理的步骤。

优选地，上述的闪存管理方法还包括：对经过扫描处理的次片闪存介质判断是否可用的步骤。

优选地，上述筛选处理包括：读取次片闪存介质的闪存介质识别码的步骤；鉴别所述闪存介质识别码，根据鉴别结果筛选或剔除次片闪存介质的步骤。

优选地，上述筛选处理包括：选取次片闪存介质中的一块，写入预设数据的步骤；从所述块读取数据的步骤；比较写入的数据和读取的数据是否相同，根据比较结果筛选或剔除次片闪存介质的步骤。

优选地，上述的闪存管理方法对至少一次片闪存介质分别分配线程，进行筛选过程和/或处理过程。