[发明专利]表面粗化的氮化镓系发光元件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200810134896.7 申请日: 2008-08-06
公开(公告)号: CN101645476A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 黄世晟;涂博闵;叶颖超;林文禹;吴芃逸;徐智鹏;詹世雄 申请(专利权)人: 先进开发光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 陈 晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 表面 氮化 发光 元件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种表面粗化的氮化镓系发光元件,包括:

衬底;

缓冲层,成长于该衬底上;

第一导电类型三族氮化物半导体材料层,成长于该缓冲层上;

三族氮化物半导体发光层,成长于该第一导电类型三族氮化物半导体材料层上;

第一第二导电类型三族氮化物半导体材料层,成长于该三族氮化物半导体发光层上;

重掺杂第二导电类型三族氮化物半导体材料层,成长于该第一第二导电类型三族氮化物半导体材料层上;以及

第二第二导电类型三族氮化物半导体粗化层,成长于该重掺杂第二导电类型三族氮化物半导体材料层上。

2.如权利要求1所述的表面粗化的氮化镓系发光元件,其中该第一导电类型为n型,该第二导电类型为p型。

3.如权利要求1所述的表面粗化的氮化镓系发光元件,其中该第一导电类型为p型,该第二导电类型为n型。

4.一种表面粗化的氮化镓系发光元件的制造方法,包括:

在衬底上,成长缓冲层;

在该缓冲层上,成长第一导电类型三族氮化物半导体材料层;

在该第一导电类型三族氮化物半导体材料层上,成长三族氮化物半导体发光层;

在该三族氮化物半导体发光层上,成长第一第二导电类型三族氮化物半导体材料层;

在该第一第二导电类型三族氮化物半导体材料层上,成长重掺杂第二导电类型三族氮化物半导体材料层;以及

在该重掺杂第二导电类型三族氮化物半导体材料层上,成长第二第二导电类型三族氮化物半导体粗化层。

5.如权利要求4所述的表面粗化的氮化镓系发光元件的制造方法,其中该重掺杂第二导电类型三族氮化物半导体材料层,以大于1000℃的温度进行成长。

6.如权利要求4所述的表面粗化的氮化镓系发光元件的制造方法,其中该第一导电类型为n型,该第二导电类型为p型。

7.如权利要求4所述的表面粗化的氮化镓系发光元件的制造方法,其中该第一导电类型为p型,该第二导电类型为n型。

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