[发明专利]用于形成具有底电极的相变存储器件的方法有效
申请号: | 200810135808.5 | 申请日: | 2008-07-14 |
公开(公告)号: | CN101393965A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | 安亨根;安东浩;林暎洙;河龙湖;张准荣;林东源;李玖瑞;朴俊相;高汉凤;朴瑛琳 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;H01L21/82;H01L21/84;H01L27/24;G11C16/02;G11C11/56 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 黄启行;陆锦华 |
地址: | 韩国京畿道水*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 形成 有底 电极 相变 存储 器件 方法 | ||
1.一种用于制造相变存储器件的方法,包括:
形成L形底电极,所述底电极与基底上的相应底部图案接触,并 且具有由在所述基底上的x和y轴方向上的尺度限定的上表面,其中, 沿着所述底电极的所述上表面的所述x轴的尺度具有比用于制造所述 相变存储器件的光刻处理的分辨极限小的宽度;
形成相变图案,所述相变图案与所述底电极的所述上表面接触, 并且具有比所述底电极的所述上表面的所述x和y轴方向上的每个所 述尺度大的宽度;并且
在所述相变图案上形成上电极,
其中,所述L形表示所述底电极在所述x轴方向上的剖面L形状。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述底电极的所述上表面 的y轴方向上的尺度具有等于或者大于光刻处理的所述分辨极限的宽 度。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,形成L形底电极包括:
在具有所述底部图案的所述基底上形成夹层绝缘层;
将所述夹层绝缘层图案化以在其中形成线形沟槽,所述线形沟槽 在所述y轴方向上延伸,并且同时暴露在所述x轴方向上相邻的两个 底部图案的部分;
依序在具有所述线形沟槽的所述基底内形成底电极层和隔离物 层;
依序回蚀所述隔离物层和所述底电极层以形成L形底电极图案和 隔离物;
在具有所述L形底电极图案和所述隔离物的所述基底内形成填充 所述线形沟槽的第一绝缘图案;
在具有所述第一绝缘图案和所述L形底电极图案的所述基底上形 成在所述x轴方向上延伸的线形掩模图案;
使用所述线形掩模图案作为蚀刻掩模来蚀刻所述第一绝缘图案、 所述L形底电极图案和所述夹层绝缘层,直到暴露了所述底部图案; 以及
在所蚀刻的区域内填充第二绝缘图案。
4.根据权利要求3所述的方法,还包括:
在形成在所述x轴方向上延伸的所述线形掩模图案之前,平面化 具有所述第一绝缘图案、所述L形底电极图案和所述隔离物的所述基 底,以平面化所述L形底电极图案的上表面。
5.根据权利要求2所述的方法,其中,形成L形底电极包括:
在具有所述底部图案的所述基底上形成夹层绝缘层;
将所述夹层绝缘层图案化以在其中形成线形沟槽,所述线形沟槽 在所述y轴方向上延伸,并且同时暴露在所述x轴方向上相邻的两个 底部图案的部分;
形成底电极图案,所述底电极图案覆盖所述线形沟槽的侧壁和下 表面;
在具有所述底电极图案的所述基底内形成填充所述线形沟槽的内 部绝缘图案;
在具有所述内部绝缘图案和所述底电极图案的所述基底上形成具 有第一开口和第二开口的掩模图案,所述第一开口暴露在所述y轴方 向上的所述内部绝缘图案的中央区域,所述第二开口暴露在所述x轴 方向上的所述底部图案之间的上部区域;
使用所述掩模图案作为蚀刻掩模来蚀刻所述内部绝缘图案、所述 底电极图案和所述夹层绝缘层,直到暴露了所述底部图案;并且
在所蚀刻的区域内填充绝缘图案。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,在所述底电极的所述上表 面的所述y轴方向上的所述尺度具有比光刻处理的分辨极限小的宽度。
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