[发明专利]像素结构的制作方法有效
申请号: | 200810137834.1 | 申请日: | 2008-07-08 |
公开(公告)号: | CN101315909A | 公开(公告)日: | 2008-12-03 |
发明(设计)人: | 杨智钧;黄明远;林汉涂;石志鸿;廖达文;方国龙;蔡佳琪 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 结构 制作方法 | ||
技术领域
本发明有关于一种像素结构的制作方法,且特别有关于一种利用掀离工艺(lift-off process)来制作保护层的像素结构的制作方法。
背景技术
显示器为人与信息的沟通界面,目前以平面显示器为主要发展趋势。平面显示器主要有以下几种:有机电激发光显示器(organic electroluminescencedisplay)、等离子体显示器(plasma display panel)以及薄膜晶体管液晶显示器等(thin film transistor liquid crystal display)。其中,又以薄膜晶体管液晶显示器的应用最为广泛。一般而言,薄膜晶体管液晶显示器主要由薄膜晶体管阵列基板(thin film transistor array substrate)、彩色滤光阵列基板(color filtersubstrate)和液晶层(liquid crystal layer)所构成。其中,薄膜晶体管阵列基板包括多条扫描线(scan lines)、多条数据线(data lines)以及多个阵列排列的像素结构(pixel unit),且各个像素结构分别与对应的扫描线及数据线电性连接。
图1A~图1G为现有的像素结构的制造流程图。首先,请参照图1A,提供一基板10,并通过第一道光掩模工艺于基板10上形成一栅极20。接着,请参照图1B,在基板10上形成一栅极绝缘层30以覆盖住栅极20。然后,请参照图1C,通过第二道光掩模工艺于栅极绝缘层30上形成一位于栅极20上方的通道层40。一般而言,通道层40的材质为非晶硅(amorphous silicon)。之后,请参照图1D,通过第三道光掩模工艺于通道层40的部分区域以及栅极绝缘层30的部分区域上形成一源极50以及一漏极60。由图1D可知,源极50与漏极60分别由通道层40的两侧延伸至栅极绝缘层30上,并将通道层40的部分区域暴露。接着,请参照图1E,于基板10上形成一保护层70以覆盖栅介电层30、通道层40、源极50以及漏极60。然后,请参照图1F,通过第四道光掩模工艺将保护层70图案化,以于保护层70中形成一接触孔H。由图1F可知,保护层70中的接触孔H会将漏极60的部分区域暴露。之后,请参照图1G,通过第五道光掩模工艺于保护层70上形成一像素电极80,由图1G可知,像素电极80会透过接触孔H与漏极60电性连接。在像素电极80制作完成之后,便完成了像素结构90的制作。
可见,现有的像素结构90主要是通过五道光掩模工艺来进行制作,换言之,像素结构90需采用五个具有不同图案的光掩模(mask)来进行制作。由于光掩模的造价十分昂贵,且每道光掩模工艺皆须使用到具有不同图案的光掩模,因此,若无法缩减光掩模工艺的数目,像素结构90的制造成本将无法降低。
此外,随着薄膜晶体管液晶显示面板的尺寸日益增加,用来制作薄膜晶体管阵列基板的光掩模尺寸也会随之增加,而大尺寸的光掩模在造价上将更为昂贵,使得像素结构90的制造成本无法有效地降低。
发明内容
本发明的目的在于提出一种像素结构的制作方法,以适于降低制作成本。
为实现本发明的目的,在此提出一种像素结构的制作方法,其包括下列步骤。首先,于基板上形成栅极,并于基板上形成栅介电层以覆盖栅极。接着,于栅介电层上形成通道层,并于通道层上形成第二金属层。接着,于第二金属层上形成图案化光致抗蚀剂层,并以图案化光致抗蚀剂层为掩模移除部分的第二金属层,以于栅极两侧的通道层上形成源极与漏极,其中栅极、通道层、源极以及漏极构成薄膜晶体管。之后,于图案化光致抗蚀剂层、栅介电层以及薄膜晶体管上形成保护层。移除图案化光致抗蚀剂层,以使图案化光致抗蚀剂层上的保护层一并被移除,而形成图案化保护层,并暴露出源极与漏极。接着,于图案化保护层与漏极上形成像素电极。
在本发明的一实施例中,上述的栅极的形成方法例如是先形成第一金属层于基板上,再将第一金属层图案化,以形成栅极。
在本发明的一实施例中,上述的第一金属层的图案化方法例如是激光剥离或微影蚀刻。
在本发明的一实施例中,上述的通道层的形成方法例如是先于栅介电层上形成半导体层,再将半导体层图案化,以形成通道层。
在本发明的一实施例中,上述的半导体层的图案化方法例如是激光剥离或微影蚀刻。
在本发明的一实施例中,上述的栅介电层的形成方法例如是通过化学气相沉积形成氮化硅层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造