[发明专利]半导体器件和偏移电压调节方法有效
申请号: | 200810144343.X | 申请日: | 2008-07-25 |
公开(公告)号: | CN101364120A | 公开(公告)日: | 2009-02-11 |
发明(设计)人: | 福原淳;满田刚 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 陆锦华;黄启行 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 偏移 电压 调节 方法 | ||
1.一种半导体器件,包括:
熔断器部分,具有构造成产生开关控制信号的多个熔断器电路;
其中,所述多个熔断器电路中的每一个包括:
熔断器,连接在第一电源电压和切断节点之间;
电流源,连接在第二电源电压和输出节点之间;
第一晶体管,连接在所述输出节点和所述切断节点之间,并具有 与所述第二电源电压连接的栅极;
第三晶体管,连接在所述输出节点和所述第二电源电压之间;
第四晶体管,连接在所述第一电源电压和所述第三晶体管的栅极 之间,并具有与所述切断节点连接的栅极;以及
第五晶体管,连接在所述第二电源电压和所述第三晶体管的栅极 之间,并具有与所述第二电源电压连接的栅极,
其中,所述电流源包括第二晶体管,所述第二晶体管的源极和栅 极与所述第二电源电压连接,所述第二晶体管的漏极与所述输出节点 和所述第一晶体管的漏极连接,以及所述第一晶体管的源极与所述切 断节点和所述熔断器连接,并且
其中,所述第二晶体管是耗尽型N沟道MOS晶体管。
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,所述熔断器电路还 包括第一电阻器,连接在所述输出节点和所述第二晶体管的漏极之间。
3.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,所述熔断器电路还 包括:
第二电阻器,连接在所述第四晶体管的栅极和所述切断节点之间; 以及
二极管,连接在所述第四晶体管的栅极和所述第一电源电压之间。
4.根据权利要求3所述的半导体器件,还包括:
连接在所述第二电阻器和所述第四晶体管的栅极之间的第三电阻 器,
其中,所述第四晶体管的栅极通过所述第三电阻器和所述第二电 阻器与所述切断节点连接。
5.根据权利要求1至4中的任一项所述的半导体器件,其中,所 述第一晶体管是P沟道晶体管,以及
其中,所述第一电源电压高于所述第二电源电压。
6.根据权利要求1至4中的任一项所述的半导体器件,其中,所 述第一晶体管是N沟道晶体管,以及
其中,所述第一电源电压低于所述第二电源电压。
7.根据权利要求1至4中的任一项所述的半导体器件,其中,在 不切断任何熔断器的情况下,所述熔断器部分基于提供到所述切断节 点的调节数据产生所述开关控制信号。
8.根据权利要求7所述的半导体器件,其中,基于与所述调节数 据对应并提供到所述切断节点的熔断器切断数据,选择性地切断所述 多个熔断器电路的所述熔断器。
9.根据权利要求1至4中的任一项所述的半导体器件,其中,给 所述第一晶体管的阱电压供给所述第一电源电压。
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