[发明专利]检测设备无效

专利信息
申请号: 200810145109.9 申请日: 2008-07-31
公开(公告)号: CN101329456A 公开(公告)日: 2008-12-24
发明(设计)人: 周上杰;黄彦杰 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01N21/88;G01N21/84
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 汤在彦
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 检测 设备
【说明书】:

技术领域

发明是有关于一种检测设备,且特别是有关于一种能有效分辨表面落尘颗粒或是面板本身缺陷的检测设备。

背景技术

由于技术不断的进步,液晶显示器已经大幅取代传统的冷阴极管显示器。液晶显示器的产业正在蓬勃发展当中,为了适应逐年成长的市场,面板制造厂无不积极地提升产能利用率及良率。因此除了生产制造外,检测产品的良莠也是制造厂商的一大课题。

目前检测面板的方式有两种:

(一)人员检测:由人员点亮画面,利用目视并切换模式来寻找面板的缺陷。然而其缺点有二:一为人员虽然可以用肉眼辨别表面(例如是落尘或是刮伤)与面板内部瑕疵(例如是工艺异常或是内部脏污)所造成的亮暗缺陷之间的差别,但是由人员检测易造成人因差异导致标准不一,或人员疲劳引起误检(例如是漏筛),导致不良品进行后续制程并流致客户端造成客诉。缺点二为:24小时设置常态性人员作业,使得检测所衍生的相关成本提高许多。

(二)自动检测:此种检测方式是先将背光源点亮,使光线穿透液晶显示面板之后,利用光学检测系统进行检测。当液晶显示面板内部存有瑕疵时,光学检测系统会检测到亮点或亮线的信号。但是当液晶显示面板表面有落尘颗粒或刮痕存在时,光学检测系统无法正确辨识而误判为亮点或是亮线等液晶显示面板的内部瑕疵。也就是说,自动检测方法存在着对于面板内部瑕疵所造成亮暗缺陷以及面板表面的落尘颗粒或刮痕所造成的缺陷,光学检测系统都会显示出同样的检测结果。但是,面板内部瑕疵所造成亮暗缺陷才是淘汰的标准。因此,现有的检测方式会造成误将良品淘汰的情况。

发明内容

本发明的主要目的在于,提供一种检测设备,其可以有效地分辨面板表面的落尘颗粒或是面板内部瑕疵所造成的缺陷。

为达上述或其它目的,本发明提出一种检测设备,用于检测液晶显示面板,其中液晶显示面板具有一前表面以及一后表面,液晶显示面板的前表面设置有一上偏光片,液晶显示面板的后表面设置有一下偏光片。上述的检测设备包括一置具、一影像撷取器、一偏光元件、一背光源以及至少一光源。液晶显示面板设置在置具上。影像撷取器设置于液晶显示面板的前表面的上方。偏光元件设置于影像撷取装置与液晶显示面板之间,其中偏光元件的偏振方向与上偏光片的偏振方向不同。背光源设置在液晶显示面板的后表面的下方。另外,至少一光源设置在液晶显示面板的侧边处,且光源所产生的光照射在液晶显示面板的前表面上。

本发明提出一种检测设备,用于检测显示面板,显示面板具有一前表面以及一后表面。上述的检测设备包括一置具、一影像撷取器、一偏光元件、一背光源以及至少一光源。液晶显示面板设置在置具上。影像撷取器设置于液晶显示面板的前表面的上方。偏光元件设置于影像撷取装置与液晶显示面板之间,其中偏光元件的偏振方向与上偏光片的偏振方向不同。背光源设置在液晶显示面板的后表面的下方。另外,至少一光源设置在液晶显示面板的侧边处,且光源所产生的光照射在液晶显示面板的前表面上。

本发明因采用增加偏光元件及在待侧面板的侧边处设置一光源,因此能够正确地将面板表面的落尘颗粒、刮痕与面板内部瑕疵所造成的亮暗缺陷清楚分辨出来。相较于现有的检测技术大幅降低生产在线良品被误判的机率。

附图说明

图1为本发明一实施例的检测设备的示意图。

图2为本发明另一实施例的检测设备的示意图。

图3为本发明又一实施例的检测设备的立体示意图。

【主要元件符号说明】

100:液晶显示面板                102:前表面

104:后表面                      110:上偏光片

120:下偏光片                    200、300:检测设备

210、310:置具                   220、320:影像撷取器

230、340:背光源                 330:偏光元件

350:光源                        360:高亮度弧形侧光光源

370:高亮度面型弧形侧光光源

具体实施方式

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合附图详细说明如下。

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