[发明专利]一种基于半导体光放大器偏振旋转效应的电光采样方法

权利要求书

1.一种基于半导体光放大器偏振旋转效应的电光采样方法，其特征是它包含以下步骤：

步骤1电光采样系统构成

电光采样系统由输入光纤(1)，第一偏振控制器(4)，半导体光放大器(5)，第二偏振 控制器(6)，偏振合束器(7)和输出光纤(3)依次通过光连接构成；

步骤2光学工作参数的确定

步骤2a：从半导体光放大器(5)的技术说明文件确定半导体光放大器(5)的输入电流 强度的最小值I_l和最大值I_r；

步骤2b：在半导体光放大器(5)的输入电极(2)输入强度为I_l的电流，在输入光纤(1) 中输入光功率P在-30dBm至-15dBm范围内的小信号连续光，在输出光纤(3)输出端测量 光功率大小；

步骤2c：把第一偏振控制器(4)的偏振方向与半导体光放大器(5)的波导层夹角θ_a设为45度，偏振合束器(7)的透光轴与半导体光放大器(5)的波导层夹角β设为45度， 调整第二偏振控制器(6)偏振方向与半导体光放大器(5)的波导层夹角θ_b，从而为TE模与 TM模引入附加相差Φ_pc，使从输出光纤(3)输出的光功率最小；

步骤2d：在45度附近调整第一偏振控制器(4)的偏振方向与半导体光放大器(5)的 波导层夹角θ_a，当从输出光纤(3)输出的光功率为零时记录下θ_a，θ_b和β的值；

步骤2e：在半导体光放大器(5)的工作电流范围[I_l，I_r]内改变半导体光放大器(5)的 输入电流强度，从输出光纤(3)的输出端得到输出光功率随输入信号电流强度单调递增的特 性曲线；

步骤3静态工作点的确定

选取特性曲线的线性区BC段为电光采样系统的工作区，其对应的输入电流强度变化范 围为[I_b，I_c]，把线性工作区的中点D的输入电流强度值I_d设为半导体光放大器(5)的静态 工作点；

步骤4电光采样的实现

步骤4a：在半导体光放大器(5)的输入电极(2)上输入电流强度为I_d的静态工作电流， 同时在半导体光放大器(5)的输入电极(2)上输入最大幅度为0.5^·|I_b-I_c|、频率为f_c的模 拟信号电流；

步骤4b：在电光采样系统的光输入端输入重复频率为f_s，峰值功率为P的采样光脉冲，在光 输出端得到光功率随输入信号电流强度线性变化的光脉冲，从而完成了电光采样。