[发明专利]利用联合检测器进行物体检测的方法有效

专利信息
申请号: 200810149265.2 申请日: 2008-09-22
公开(公告)号: CN101685501A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 任海兵;金培亭;李宗河 申请(专利权)人: 三星电子株式会社;北京三星通信技术研究有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06K9/00
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 韩明星;刘奕晴
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 利用 联合 检测器 进行 物体 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种利用联合检测器进行物体检测的方法,所述方法包括:

将种类不同的第一检测器与第二检测器以联合的方式组成多层联合检测 器;

从最高层检测器开始,对输入的样本进行强分类检测;

允许在当前层被检测为物体的样本进入下一层,并拒绝在当前层被检测 为非物体的样本进入下一层;以及

将通过所有层的样本作为检测到的物体。

2.如权利要求1所述的方法,其中,第一检测器是Haar检测器,第二 检测器是MCT检测器。

3.如权利要求1所述的方法,其中,第一检测器是Haar检测器,第二 检测器是SIFT检测器。

4.如权利要求1所述的方法,其中,第一检测器是Haar检测器,第二 检测器是NMF检测器。

5.如权利要求1所述的方法,其中,所述联合的方式为:将第一检测器 设置在多层联合检测器的最开始的n层,将第二检测器设置在多层联合检测 器的剩余m层。

6.如权利要求5所述的方法,其中,根据经验和测试结果来确定n和m 的值。

7.如权利要求1所述的方法,其中,所述联合的方式为:将第一检测器 与第二检测器交替设置在所述多层中的各个层。

8.如权利要求7所述的方法,其中,第一检测器位于奇数层,第二检测 器位于偶数层。

9.如权利要求1所述的方法,其中,所述联合的方式为:通过设置反映 样本检测速度和检测效果的性能函数,分别训练第一检测器和第二检测器, 并基于训练结果为每一层选择性能较优的检测器作为该层的检测器。

10.一种利用联合检测器对多姿态图像进行物体检测的方法,所述方法 包括:

按照视角将多姿态图像划分为多个子类;

针对每个子类,将种类不同的第一检测器与第二检测器以联合的方式组 成多层联合检测器;

在每个子类的多层联合检测器,从最高层检测器开始,对输入的样本进 行强分类检测;

允许在当前层被检测为物体的样本进入下一层,并拒绝在当前层被检测 为非物体的样本进入下一层;以及

将各个子类的联合检测器最终输出的样本进行融合,以形成所检测到的 物体。

11.如权利要求10所述的方法,其中,所述联合的方式为:将第一检测 器设置在多层联合检测器的最开始的n层,将第二检测器设置在多层联合检 测器的剩余m层。

12.如权利要求10所述的方法,其中,所述联合的方式为:将第一检测 器与第二检测器交替设置在所述多层中的各个层。

13.如权利要求10所述的方法,其中,所述联合的方式为:通过设置反 映样本检测速度和检测效果的性能函数,分别训练第一检测器和第二检测器, 并基于训练结果为每一层选择性能较优的检测器作为该层的检测器。

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