[发明专利]电阻式随机存取存储器结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 200810149931.2 申请日: 2008-10-17
公开(公告)号: CN101728480A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 谢君毅;吴昌荣;施能泰;刘国辰 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;G11C16/02;G11C11/56
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电阻 随机存取存储器 结构 及其 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种电阻式随机存取存储器结构及其制作方法,特别是一种 具有优选电阻转换特性的电阻式随机存取存储器结构及其制作方法。

背景技术

电阻式随机存取存储器(resistive random access memory,RRAM)为目前 业界所研发出的众多新颖存储器之一,其利用电阻转换的特性来储存位元数 据。

图1所绘示的是理想的电阻式随机存取存储器其低电阻态和高电阻态的 电流-电压曲线图。如图1所示,在理想的状态下,当电阻式随机存取存储 器进行数据写入(set)的过程中,随着电压升高,通过电阻式随机存取存储器 的电流也会逐渐升高,也就是说,电阻式随机存取存储器的电阻会由高电阻 态逐渐转换到低电阻态,而在数据抹除(reset)的过程中,随着电压升高,通 过电阻式随机存取存储器的电流会发生大幅下降的现象,也是说电阻式随机 存取存储器的电阻会由低电阻态转换到高电阻态。一般来说,一个理想的电 阻式随机存取存储器,其低电阻态和高电阻态的电流-电压曲线不应有重叠 的现象。

然而,已知的电阻式随机存取存储器其电压对电流值会发生跳动的情 况,其低电阻态和高电阻态的电流对电压曲线会发生重叠,造成元件信号判 读困难。因此,目前业界急需一种具良好电阻转换特性的电阻式随机存取存 储器,以确保存取数据的正确性。

发明内容

因此,本发明提供一种新颖的电阻式随机存取存储器的结构和制作方 式,以获得具有良好电阻转换特性的电阻式随机存取存储器。

本发明提供一种电阻式随机存取存储器的结构,包含:下电极、电阻层, 位于该下电极上以及上电极,位于该电阻层上,其中该上电极选自下列群组: 氧化铟锡(indium tin oxide,ITO)、氧化铟锌(indium zinc oxide,IZO)以及钯 (palladium,Pd)。

本发明另提供一种电阻式随机存取存储器的制作方法,包含:首先,形 成下电极,其次,在下电极上,形成电阻层,然后,在电阻层上,形成上电 极,其中上电极选自下列群组:氧化铟锡以及氧化铟锌,最后以紫外线照射 上电极。

发明人基于多年的研究经验发现,使用外线照射透明电极,例如氧化铟 锡或氧化铟锌,可以使电阻式随机存取存储器有良好的高低电阻转态,此外 使用钯作为上电极,亦可以达到使电阻式随机存取存储器具有良好高低电阻 转态的效果。

附图说明

图1所绘示的是理想的电阻式随机存取存储器其低电阻态和高电阻态的 电流-电压曲线图。

图2至图3绘示的是本发明电阻式随机存取存储器的制作方法示意图。

图4绘示的是电阻式随机存取存储器的结构示意图。

图5绘示的是以氧化铟锡为上电极、氧化铪为电阻层、氮化钛为下电极 的电阻式随机存取存储器的电流-电压曲线图,其中此电阻式随机存取存储 器未经紫外光照射。

图6绘示的是以氧化铟锡为上电极、氧化铪为电阻层、氮化钛为下电极 的电阻式随机存取存储器的电流-电压曲线图,其中此电阻式随机存取存储 器经紫外光照射。

图7绘示的是以氧化铟锌为上电极、氧化铪为电阻层、氮化钛为下电极 的电阻式随机存取存储器的电流-电压曲线图,其中此电阻式随机存取存储 器经紫外光照射。

图8绘示的是以钯为上电极、氧化铪为电阻层、氮化钛为下电极的电阻 式随机存取存储器的电流-电压曲线图。

附图标记说明

10、20   电阻式随机存取存储器

12、22   下电极

14、24   电阻层

16、26   上电极

具体实施方式

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