[发明专利]灰体辐射率的测定方法有效

专利信息
申请号: 200810153638.3 申请日: 2008-11-28
公开(公告)号: CN101419095A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: 田乃良 申请(专利权)人: 田乃良
主分类号: G01J5/52 分类号: G01J5/52
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 江镇华
地址: 300191天津市*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 辐射 测定 方法
【权利要求书】:

1.一种灰体辐射率的测定方法,其特征在于,是通过双波长探测物体的热辐射强度,来测量辐射率,包括有:

提出灰体的热辐射表达公式其中,是灰体的热辐射强度,λ为辐射波长,T为灰体的温度,这里a1,a2是表征辐射率的系数;

在相同的温度下,用双波长分别测量灰体的辐射强度,解出系数a1,a2的值,将其代入灰体的热辐射表达公式中,就可以得到灰体的辐射强度与温度的对应关系;

再根据灰体的物理模型得出实际物体在此温度下的辐射率,其中,为灰体的辐射强度;σ(λ,T)为灰体的辐射率,0<σ(λ,T)<1;φ(λ,T)为黑体的辐射强度。

2.根据权利要求1所述的灰体辐射率的测定方法,其特征在于,具体包括有如下步骤:

(1)测得物体在温度T时,对应不同波长λ1,λ2的辐射强度值

(2)将测得的数据,代入公式中并联立方程,求得两个系数a1,a2的值;

(3)在温度相同的情况下,测得黑体的辐射强度φ(λ,T);

(4)由辐射率值σ(λ,T)与灰体和黑体的辐射强度的关系,根据公式求得灰体的辐射率值σ(λ,T);

(5)由表征辐射率参数的a1,a2值,对于波长λ1可以得到一系列不同温度情况下的辐射强度和对于波长λ2可以得到一系列不同温度情况下的辐射强度

(6)由的比值,可以得到双波长辐射强度对应的温度值。

3.根据权利要求1所述的灰体辐射率的测定方法,其特征在于,所述的表征辐射率的系数a1,a2是随灰体的材料,温度,波长而变化的表征系数。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于田乃良,未经田乃良许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810153638.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top