[发明专利]灰体辐射率的测定方法有效
申请号: | 200810153638.3 | 申请日: | 2008-11-28 |
公开(公告)号: | CN101419095A | 公开(公告)日: | 2009-04-29 |
发明(设计)人: | 田乃良 | 申请(专利权)人: | 田乃良 |
主分类号: | G01J5/52 | 分类号: | G01J5/52 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 | 代理人: | 江镇华 |
地址: | 300191天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 测定 方法 | ||
1.一种灰体辐射率的测定方法,其特征在于,是通过双波长探测物体的热辐射强度,来测量辐射率,包括有:
提出灰体的热辐射表达公式其中,是灰体的热辐射强度,λ为辐射波长,T为灰体的温度,这里a1,a2是表征辐射率的系数;
在相同的温度下,用双波长分别测量灰体的辐射强度,解出系数a1,a2的值,将其代入灰体的热辐射表达公式中,就可以得到灰体的辐射强度与温度的对应关系;
再根据灰体的物理模型得出实际物体在此温度下的辐射率,其中,为灰体的辐射强度;σ(λ,T)为灰体的辐射率,0<σ(λ,T)<1;φ(λ,T)为黑体的辐射强度。
2.根据权利要求1所述的灰体辐射率的测定方法,其特征在于,具体包括有如下步骤:
(1)测得物体在温度T时,对应不同波长λ1,λ2的辐射强度值
(2)将测得的数据,代入公式中并联立方程,求得两个系数a1,a2的值;
(3)在温度相同的情况下,测得黑体的辐射强度φ(λ,T);
(4)由辐射率值σ(λ,T)与灰体和黑体的辐射强度的关系,根据公式求得灰体的辐射率值σ(λ,T);
(5)由表征辐射率参数的a1,a2值,对于波长λ1可以得到一系列不同温度情况下的辐射强度和对于波长λ2可以得到一系列不同温度情况下的辐射强度
(6)由的比值,可以得到双波长辐射强度对应的温度值。
3.根据权利要求1所述的灰体辐射率的测定方法,其特征在于,所述的表征辐射率的系数a1,a2是随灰体的材料,温度,波长而变化的表征系数。
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