[发明专利]高稳定高精度高阻值金属膜电阻器及其溅射镀膜工艺方法无效
申请号: | 200810154522.1 | 申请日: | 2008-12-25 |
公开(公告)号: | CN101477858A | 公开(公告)日: | 2009-07-08 |
发明(设计)人: | 张之圣;王秀宇;邹强;白天;潘有桐;常力峰;潘有胜 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H01C7/00 | 分类号: | H01C7/00;H01C17/06;C23C14/35 |
代理公司: | 天津市杰盈专利代理有限公司 | 代理人: | 王小静 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 稳定 高精度 阻值 金属膜 电阻器 及其 溅射 镀膜 工艺 方法 | ||
1.一种高稳定高精度高阻值金属膜电阻器,其特征在于该金属膜电阻器的阻值100MΩ,精度0.5%,过载0.5%,电阻温度系数TCR50PPm/℃,它是在高阻溅射靶材上通过磁控溅射方法制备而成,具体操作是由恒流电源进行溅射,所述的高阻溅射靶材是Cr-Si系,其中,Si 45-55%,Cr 40-50%,Ni 3-6%,Ti 0.1-0.3%;
所述的靶材在磁控溅射镀膜机上进行溅射的工艺参数:
在真空3×10-3Pa下进行,溅射真空度为5×10-1Pa,溅射电压为300~400V,溅射电流为0.1~0.2A,氩气输入量30L/min,氧气输入量1.5L/min,溅射时间1~3h。
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