[发明专利]高稳定高精度高阻值金属膜电阻器及其溅射镀膜工艺方法无效

专利信息
申请号: 200810154522.1 申请日: 2008-12-25
公开(公告)号: CN101477858A 公开(公告)日: 2009-07-08
发明(设计)人: 张之圣;王秀宇;邹强;白天;潘有桐;常力峰;潘有胜 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: H01C7/00 分类号: H01C7/00;H01C17/06;C23C14/35
代理公司: 天津市杰盈专利代理有限公司 代理人: 王小静
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 稳定 高精度 阻值 金属膜 电阻器 及其 溅射 镀膜 工艺 方法
【权利要求书】:

1.一种高稳定高精度高阻值金属膜电阻器,其特征在于该金属膜电阻器的阻值100MΩ,精度0.5%,过载0.5%,电阻温度系数TCR50PPm/℃,它是在高阻溅射靶材上通过磁控溅射方法制备而成,具体操作是由恒流电源进行溅射,所述的高阻溅射靶材是Cr-Si系,其中,Si 45-55%,Cr 40-50%,Ni 3-6%,Ti 0.1-0.3%;

所述的靶材在磁控溅射镀膜机上进行溅射的工艺参数:

在真空3×10-3Pa下进行,溅射真空度为5×10-1Pa,溅射电压为300~400V,溅射电流为0.1~0.2A,氩气输入量30L/min,氧气输入量1.5L/min,溅射时间1~3h。

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