[发明专利]一种码长连续变化的准循环低密度奇偶校验码的构造方法无效
申请号: | 200810155541.6 | 申请日: | 2008-10-08 |
公开(公告)号: | CN101394186A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | 刘磊;周武旸 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | H03M13/11 | 分类号: | H03M13/11 |
代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 | 代理人: | 汪祥虬 |
地址: | 230026*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 连续 变化 循环 密度 奇偶 校验码 构造 方法 | ||
1、一种码长连续变化的准循环低密度奇偶校验码的构造方法,包括:构造mL×nL的准循环低密度奇偶校验码校验矩阵H:
式1
式1中所示的校验矩阵H行重为n,n=1,2,…9,列重为m,m=2,3,n>m;L×L的子矩阵由单位阵向右循环移位移位项系数值aij得到,其中aij定义在环基数为L的整数环上,i∈0,1,…,m-1;j∈0,1,…,n-1;当所构造的校验矩阵H满秩时,利用式1构造的码字码率为
设子矩阵移位项系数aij:
aij=2ilj 式2
式2中lj为非负整数,其中0≤j<n,且当x≤y时,有lx≤ly;
先消除校验矩阵H中小特纳图周长值的圈:
对于列重为2的式1所示校验矩阵II及式2所示的其子矩阵移位项系数,设环基数L值大于等于一个固定的环基数界限的最小值Lmin,则校验矩阵H特纳图周长值为12的充分必要条件为:
|lj0-lj1|≠|lj2-lj3| 式3
式3中j0、j1、j2、j3至多有两个相等;
对于列重为3的式1所示校验矩阵II及式2所示的其子矩阵移位项系数,设环基数L值大于等于一个固定的环基数界限的最小值Lmin,则校验矩阵H特纳图周长值为10的充分必要条件为:
式4中j0、j1、j2、j3至多有两个相等;
按照式2得到满足校验矩阵H特纳图周长值要求的所有aij;
接着选取环基数界限的最小值Lmin:
设校验矩阵H的特纳图周长值为10,环基数的最小值为:
Lmin=2(2m-1-20)(ln-1-l0)+1 式5
则当环基数满足L>Lmin时,利用固定的移位项系数所构造的校验矩阵H特纳图周长值为10;在编码器硬件实现中,只需要存储移位项系数值aij,并利用移位寄存器实现循环移位的结构。
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