[发明专利]微电子机械二选一微波开关及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200810156451.9 申请日: 2008-10-10
公开(公告)号: CN101369679A 公开(公告)日: 2009-02-18
发明(设计)人: 廖小平;杨乐;张志强 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01P1/10 分类号: H01P1/10;H01P11/00
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人: 叶连生
地址: 21009*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 微电子 机械 二选一 微波 开关 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种微电子机械二选一微波开关,其特征在于,通过制作两个结构相同 的MEMS膜结构,控制其中一个MEMS膜桥的下拉来完成交流信号的选择,

微机械二选一开关以砷化镓为衬底(1),第一微带线(3)、第二微带线(4)、 第一锚区(5)、第二锚区(6)、膜桥(17)、电极(2)采用金为材料制备在衬底 上,此外还包含覆盖在第一微带线(3)、第二微带线(4)和电极(2)上的第一 氮化硅介质层(7)、第二氮化硅介质层(8)、第三氮化硅介质层(9)以及在衬 底背面生长的金层(18);其中,第一微带线(3)、第二微带线(4)分别位于电 极(2)的两侧,而第一锚区(5)、第二锚区(6)则分布在开关结构的两侧;膜 桥(17)悬空横跨在电极(2)和第一微带线(3)、第二微带线(4)上面,并由 第一锚区(5)、第二锚区(6)进行支撑。

2.一种如权利要求1所述的微电子机械二选一微波开关的制备方法,其特 征在于该方法具体包括以下步骤:

第一步.准备衬底:选用未掺杂的半绝缘砷化镓作为衬底(1);

第二步.光刻微带线传输线及电极:涂光刻胶并光刻刻蚀出第一微带线(3)、 第二微带线(4)、电极(2)、第一锚区(5)、第二锚区(6)的形状;

第三步.生成介质保护层:在膜桥的下方,分别在电极和两侧的微带线上用 PECVD工艺生长厚的第一氮化硅介质层(7)、第二氮化硅介质层(8)、第 三氮化硅介质层(9);

第四步.淀积并光刻聚酰亚胺牺牲层:在GaAs衬底(1)上涂覆2μm聚酰 亚胺牺牲层(10)并进行光刻;然后光刻牺牲层,仅仅保留膜桥下方以及驱动连 接线穿越微带线底线部分上方的牺牲层;

第五步.溅射Ti/Au/Ti底金层:在聚酰亚胺牺牲层上溅射用于电镀的底金 (11)

第六步.光刻并腐蚀Ti/Au/Ti底金层,形成腐蚀孔:腐蚀孔的尺寸选择为 8×8μm或者10×10μm;

第七步.电镀金:在55℃氰基溶液中电镀金,电镀金层的厚度为1.4μm;

第八步.背面蒸金:在衬底背面蒸发金属Au;

第九步.释放牺牲层:先用丙酮溶液去除残余的光刻胶,然后用显影液溶解留 下的聚酰亚胺牺牲层,并用无水乙醇脱水,形成悬浮的膜桥(17)。

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