[发明专利]判断图像提取装置对焦品质的方法有效
申请号: | 200810161096.4 | 申请日: | 2008-09-26 |
公开(公告)号: | CN101685240A | 公开(公告)日: | 2010-03-31 |
发明(设计)人: | 余建男;吕思豪 | 申请(专利权)人: | 致伸科技股份有限公司 |
主分类号: | G03B13/36 | 分类号: | G03B13/36;G02B7/28;H04N5/232 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈 晨;郑小军 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 判断 图像 提取 装置 对焦 品质 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种判断图像提取装置对焦品质的方法,尤其涉及一种借由被拍摄的图像的像素数量判断对焦品质的方法。
背景技术
科技日新月异的现代,各式各样的电子设备已发展至一定的程度,较贴近日常生活的电子产品更是相当普及化,例如计算机、手机或图像提取装置等。
一般而言,图像提取装置无论手动对焦或自动对焦均必须以肉眼或特定方法来判断图像提取装置是否对焦正确,以图像提取装置是一数字相机为例,一般使用者在拍摄完毕之后可利用数字相机的LCD荧幕来显示所拍摄的图像,让使用者可以肉眼判断是否对焦正确。然而,若是生产图像提取装置的工厂于图像提取装置制造完成后,必须对图像提取装置进行测试以确保图像提取装置的品质。由于工厂生产了数量相当庞大的图像提取装置,以肉眼来一一判断是否对焦正确不但耗时,且经过了长时间的肉眼验证后,肉眼很容易因疲劳而变得不客观,因此需要使用特定方法来验证大量的图像提取装置的对焦准确度。
接下来说明公知技术于拍摄图像后进行图像提取装置是否正确对焦的验证方法。当待测图像提取装置对图像拍摄后,透过直方图平均法(HistogramEqualization)对该图像的每一像素点的亮度进行统计分析并将统计结果显示于图1中。请参阅图1,其为公知判断图像提取装置对焦品质的方法于一理想情况的曲线示意图,其中图1的水平轴为像素点的亮度,而垂直轴为像素点的数量。图1中显示该图像的每一像素点的亮度由暗至亮排列,水平轴的左方表示像素点的低亮度,即较暗的部分,反之,水平轴的右方表示像素点的高亮度,即较亮的部分。图1中,于该图像的低亮度部分中具有最多的数量Bmax,且具有最多像素点数量(即Bmax)的像素点亮度为IB,而于该图像的高亮度部分中具有最多的数量Wmax,且具有最多像素点数量(即Wmax)的像素点亮度为IW。
公知技术可根据该些像素点亮度可判断图像提取装置的对焦情形,也即利用一计算式来获得一对焦系数CF,其计算式为:
CF=(IW-IB)/(IW+IB)
且公知技术预设有一标准对焦系数CS,公知技术利用标准对焦系数CS与对焦系数CF的大小关系来判断待测图像提取装置是否对焦正确,其中当对焦系数CF大于或等于标准对焦系数CS时,判断待测图像提取装置对焦正确;而当对焦系数CF小于标准对焦系数CS时,则判断待测图像提取装置对焦失误,也即对焦品质低下。
上述公知技术的方法借由程序来执行,在实际的实施情况中会受环境或其他因素影响。请参阅图2,其为公知判断图像提取装置对焦品质的方法于一实际情况的曲线示意图。图2中,于图像的高亮度部分中具有最多的像素点数量Wmax,而具有最多像素点数量(即Wmax)的像素点亮度为IW。至于低亮度的部分可由图2看出,低亮度部分具有两个波峰,而其波峰值均为Bmax,除上述的像素点亮度IB之外,还有另一像素点亮度IB’的像点数量也为Bmax。在如此情况之下,程序不知道该取哪一像素点亮度来判断。另外,由于外在环境的光线对图像的像素点亮度造成影响,使于该图像之中像素点亮度IB的像点数量发生变更为Bmax+1或Bmax-1,使程序于亮度IB的像素点亮度变为Bmax-1时取像素点亮度IB’来套入计算式,而当于亮度IB的像素点亮度变为Bmax+1时取像素点亮度IB来套入计算式,因此,经由计算式所获得的对焦系数CF不准确,使其判断基准发生误差而不可靠。
发明内容
本发明的目的在提供一种不因光线影响而可判断图像提取装置对焦品质的方法。
于一优选实施例中,本发明提供一种判断图像提取装置对焦品质的方法,用以判断一待测图像提取装置的对焦品质,包括:
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