[发明专利]标本分析仪及标本分析方法有效
申请号: | 200810161245.7 | 申请日: | 2008-09-18 |
公开(公告)号: | CN101393227A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | 若宫裕二;奥崎智裕;竹原久人 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N33/53 |
代理公司: | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁朝玉;刘良勇 |
地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 标本 分析 方法 | ||
1.一种标本分析仪,包括:
预定接受单元,用于接受具有分析项目信息的标本分析预定;
分析装置,根据所述预定接受单元接受的分析预定,将标本与试 剂混合,并分析标本;
计算单元,分别按分析项目对在第一计数期内的所述分析装置所 作的分析次数和在与所述第一计数期不同的第二计数期内的所述分 析装置所作的分析次数进行计数;
选择接受单元,受理对所述第一计数期和所述第二计数期其中之 一的选择;
输出设备;及
输出控制单元,使所述输出设备输出所述选择接受单元受理的计 数期内的各分析项目的分析次数;其中,
所述预定接受单元受理具有分析项目信息的常规标本分析和再 分析的分析预定;
所述计算单元分别按分析项目对在所述第一计数期内的所述常 规标本分析的分析次数和在所述第一计数期内的所述再分析的分析 次数以及在所述第二计数期内的所述常规标本分析的分析次数和在 所述第二计数期内的所述再分析的分析次数进行计数;
所述输出控制单元让所述输出设备可区分地输出所述选择接受 单元所受理的计数期内常规标本分析的各分析项目的分析次数和所 述选择接受单元所受理的计数期内所述再分析的各分析项目的分析 次数。
2.权利要求1所述标本分析仪,其特征在于:
所述计算单元将所得测定结果的次数作为分析次数进行计数。
3.权利要求1所述标本分析仪,其特征在于:
所述计算单元还将分析预定已受理但未得出测定结果的次数作 为测定故障数进行计数。
4.权利要求1所述标本分析仪,还包括:
变更接受单元,接受所述第二计数期的变更,
其中,所述计算单元按分析项目对所述变更接受单元受理的第二 计数期内的分析次数进行计数。
5.权利要求1所述标本分析仪,其特征在于:
所述第一计数期为固定期间。
6.权利要求1所述标本分析仪,其特征在于:
所述输出设备有显示装置;
所述输出控制单元控制所述显示装置,使所述显示装置显示所述 选择接受单元受理的计数期内所述分析装置的分析次数。
7.一种标本分析仪,包括:
预定接受单元,用于接受具有分析项目信息的标本分析预定;
分析装置,根据所述预定接受单元接受的分析预定,将标本与试 剂混合,并分析标本;
指定接受单元,用于受理对所述分析装置分析次数进行计数的任 意计数期的指定;
计算单元,分别按分析项目在所述指定接受单元所受理的计数期 内对所述分析装置所作的分析次数进行计数;
输出设备;及
输出控制单元,用于让所述输出设备输出在所述计数期内所述分 析装置所做的各分析项目的分析次数;其中,
所述预定接受单元受理具有分析项目信息的常规标本分析和再 分析的分析预定;
所述计算单元分别按分析项目对在所述指定接受单元接受的期 间内所做的常规标本分析的分析次数和所述再分析的分析次数进行 计数;
并让所述输出设备可区分地输出在所述计数期内常规标本分析 的各分析项目的分析次数和在所述计数期内所述再分析的各分析项 目的分析次数。
8.权利要求7所述标本分析仪,其特征在于:
所述计算单元将所得测定结果的次数作为分析次数进行计数。
9.权利要求7所述标本分析仪,其特征在于:
所述计算单元还将分析预定已受理但未得出测定结果的次数作 为测定故障数进行计数。
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