[发明专利]近红外光谱分析仪及其分辨率的校正方法

权利要求书

1.一种近红外光谱分析仪分辨率的校正方法，包括以下步骤：

a、设定步骤

设定近红外光谱分析仪中光谱仪的目标分辨率及分辨率公差范围；

b、调节和处理步骤

使用标准光源连接所述光谱仪，扫描得到标准光源光谱，调节光谱仪使其分辨率处在所述分辨率公差范围内；

使用所述光谱仪扫描得到标准光源光谱，依据目标分辨率处理标准光源光谱，得到分辨率校正信息并储存，分辨率校正信息可将标准光源光谱的分辨率校正至目标分辨率；

c、分辨率校正步骤

测量光源发出的光照射样本，使用所述光谱仪扫描得到样本吸收光谱，利用分辨率校正信息处理样本的吸收光谱，将样本吸收光谱的分辨率校正到目标分辨率；

从而将不同近红外光谱分析仪的分辨率校正至相同。

2.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于：每次测量新样本时重复所述步骤c。

3.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于：

在所述步骤a中，将光谱仪的工作波段划分为若干子波段，分别在若干子波段内设定目标分辨率和分辨率公差范围；

在所述步骤b中，所述标准光源的光谱在各子波段内有特征峰。

4.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于：

在所述步骤b中，通过以下方式得到分辨率校正信息：

使用光谱仪扫描得到标准光源光谱，获得标准光源光谱的特征峰；

选取若干个特征峰，采用如下高斯公式拟合选取的特征峰，从而得到各个特征峰的峰宽δ_1i，i＝1，2，3…n；

C表示特征峰的中心位点，A、B为常数；

得到高斯滤波函数： 其中， i＝1，2，3…n；以x＝0为中心，按照所述高斯滤波函数以一定间隔生成从x＝-k·δ₂到x＝k·δ₂的高斯序列，k为系数，归一化得到的高斯序列并储存；

在所述步骤c中，通过以下方式处理样本吸收光谱：

所述高斯序列与样本吸收光谱进行卷积；

输出卷积后的样本吸收光谱，从而将样本吸收光谱的分辨率校正到目标分辨率。

5.根据权利要求1所述的校正方法，其特征在于：

在所述步骤b中，通过以下方式得到分辨率校正信息：

使用光谱仪扫描得到标准光源光谱，获得所述标准光源光谱的特征峰；

选取若干个特征峰，根据选取的特征峰所处位置，将标准光源光谱分成若干段L_i，i＝1，2，3…n，每一段均包含一个特征峰；

采用如下高斯公式拟合选取的特征峰，从而得到各个特征峰的峰宽δ_1i，i＝1，2，3…n；

C表示特征峰的中心位点，A、B为常数；

得到与每一段L_i对应的高斯滤波函数 以x＝0为中心，按照所述高斯滤波函数以一定间隔生成从x＝-k·δ_2i到x＝k·δ_2i的与每一段L_i对应的高斯序列，k为系数，归一化得到的高斯序列并储存；

在所述步骤c中，通过以下方式处理样本吸收光谱：

按照所述选取的特征峰所处位置，将样本吸收光谱分为若干段M_i，i＝1，2，3…n；

将与同一特征峰对应的分段M_i和分段L_i所对应的高斯序列卷积，得到每一段卷积后的光谱；

组合每一段卷积后的样本吸收光谱并输出，从而将样本吸收光谱的分辨率校正到目标分辨率。

6.根据权利要求4或5所述的校正方法，其特征在于：在所述步骤c中，按照与所述一定间隔相同的间隔对所述样本的吸收光谱进行插值处理，从而使样本吸收光谱与所述高斯序列相匹配；

所述高斯序列与插值后的样本吸收光谱卷积。