[发明专利]利用微纳光纤进行直写光刻的方法无效

专利信息
申请号: 200810163137.3 申请日: 2008-12-18
公开(公告)号: CN101424880A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 田丰;白剑;杨国光;徐建峰;梁宜勇 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F7/00;G02B6/00
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 周 烽
地址: 310027浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 利用 光纤 进行 光刻 方法
【权利要求书】:

1.一种利用微纳光纤进行直写光刻的方法,微纳光纤直写光刻的装置包括He-Ge激光器、电子快门、光纤耦合装置、蓝光单模光纤、微纳光纤固定装置、基片、六维电控工作台、第一显微镜、第二显微镜和计算机。其特征在于,包括以下步骤:

(1)将蓝光单模光纤的一端制备形成微纳光纤。

(2)在基片上涂敷一层光刻胶。

(3)将涂敷了一层光刻胶的基片固定在六维电控工作台上,通过双显微镜观察法使微纳光纤与基片对准。

(4)给蓝光单模光纤通光,控制放置基片的六维电控工作台移动,使微纳光纤在基片上曝光出所需要的图形;

(5)显影、定影、后烘。

2.根据权利要求1所述的利用微纳光纤进行直写光刻的方法,其特征在于,所述步骤(1)包括热熔拉伸和湿法刻蚀两个步骤。

3.根据权利要求2所述的利用微纳光纤进行直写光刻的方法,其特征在于,所述热熔拉伸具体为:将蓝光单模光纤一端剥去保护层,然后用酒精清洁干净,将其置于酒精灯火焰的外焰加热,在其熔化的过程中,手工拉伸光纤两端直至拉断。

4.根据权利要求2所述的利用微纳光纤进行直写光刻的方法,其特征在于,所述湿法刻蚀具体为:取氢氟酸,氟化氨和去离子水,按照质量配比氢氟酸∶氟化氨∶去离子水=3∶6∶9配制氢氟酸溶液,将配制好的氢氟酸溶液滴在塑料基片上形成氢氟酸液滴;将塑料基片放置在显微镜物镜下,将经过热熔拉伸的蓝光单模光纤从侧面缓慢插入氢氟酸液滴中刻蚀。通过显微镜观察刻蚀过程,待蓝光单模光纤被刻蚀到直径为400~600纳米时取出,用去离子水洗净,得到微纳光纤。

5.根据权利要求1所述的利用微纳光纤进行直写光刻的方法,其特征在于,所述步骤(2)中,所述光刻胶的厚度为100~500纳米。

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