[发明专利]利用微纳光纤进行直写光刻的方法无效
申请号: | 200810163137.3 | 申请日: | 2008-12-18 |
公开(公告)号: | CN101424880A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | 田丰;白剑;杨国光;徐建峰;梁宜勇 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F7/00;G02B6/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人: | 周 烽 |
地址: | 310027浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 光纤 进行 光刻 方法 | ||
1.一种利用微纳光纤进行直写光刻的方法,微纳光纤直写光刻的装置包括He-Ge激光器、电子快门、光纤耦合装置、蓝光单模光纤、微纳光纤固定装置、基片、六维电控工作台、第一显微镜、第二显微镜和计算机。其特征在于,包括以下步骤:
(1)将蓝光单模光纤的一端制备形成微纳光纤。
(2)在基片上涂敷一层光刻胶。
(3)将涂敷了一层光刻胶的基片固定在六维电控工作台上,通过双显微镜观察法使微纳光纤与基片对准。
(4)给蓝光单模光纤通光,控制放置基片的六维电控工作台移动,使微纳光纤在基片上曝光出所需要的图形;
(5)显影、定影、后烘。
2.根据权利要求1所述的利用微纳光纤进行直写光刻的方法,其特征在于,所述步骤(1)包括热熔拉伸和湿法刻蚀两个步骤。
3.根据权利要求2所述的利用微纳光纤进行直写光刻的方法,其特征在于,所述热熔拉伸具体为:将蓝光单模光纤一端剥去保护层,然后用酒精清洁干净,将其置于酒精灯火焰的外焰加热,在其熔化的过程中,手工拉伸光纤两端直至拉断。
4.根据权利要求2所述的利用微纳光纤进行直写光刻的方法,其特征在于,所述湿法刻蚀具体为:取氢氟酸,氟化氨和去离子水,按照质量配比氢氟酸∶氟化氨∶去离子水=3∶6∶9配制氢氟酸溶液,将配制好的氢氟酸溶液滴在塑料基片上形成氢氟酸液滴;将塑料基片放置在显微镜物镜下,将经过热熔拉伸的蓝光单模光纤从侧面缓慢插入氢氟酸液滴中刻蚀。通过显微镜观察刻蚀过程,待蓝光单模光纤被刻蚀到直径为400~600纳米时取出,用去离子水洗净,得到微纳光纤。
5.根据权利要求1所述的利用微纳光纤进行直写光刻的方法,其特征在于,所述步骤(2)中,所述光刻胶的厚度为100~500纳米。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学,未经浙江大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810163137.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种带式输送机重锤块
- 下一篇:扇形角式垃圾桶