[发明专利]全息图记录和恢复装置及全息图记录和恢复方法

权利要求书

1.一种全息存储装置或系统，包括：

激光源；

由从激光源发出的光束形成信号光和参考光的光学元件；

调制信号光的空间光调制器；

光学信息记录介质，将由空间光调制器调制的信号光和参考光之间的干涉引起的干涉条纹记录为全息图；

引起光学信息记录介质中的由空间光调制器调制的信号光和参考光之间的干涉的光学系统；

参考光角度控制部件，用于控制参考光在光学信息记录介质上的入射角；及

光学检测器，检测来自光学信息记录介质的恢复光；

其中，

参考光角度控制部件使参考光以入射角{θ}入射到光学信息记录介质上实质上相同的位置，入射角{θ}包括多个不同的入射角[θ₁，θ₂，...，θ_M](M是2或更大的整数)，并且根据光学信息记录介质上的轨道位置改变参考光的入射角{θ}。

2.根据权利要求1所述的全息存储装置或系统，其中，参考光角度控制部件对光学记录介质上的每一个轨道位置改变参考光的入射角{θ}。

3.根据权利要求1所述的全息存储装置或系统，其中，参考光角度控制部件将光学信息记录介质的轨道分成多个轨道组，每个轨道组具有两个或更多个连续的轨道，根据轨道组使用参考光的不同入射角{θ}，对于属于对应的相同轨道组的轨道使用公共的不同入射角{θ}，并且对每一个轨道组重复地使用参考光的所述不同入射角{θ}。

4.根据权利要求1所述的全息存储装置或系统，其中，参考光角度控制部件将光学信息记录介质的轨道从内圆周或外圆周分成奇数轨道和偶数轨道，对于分为奇数轨道的轨道使用参考光的相同入射角{θ}，且对于分为偶数轨道的轨道使用参考光的相同入射角{θ}，并且对于奇数轨道和偶数轨道分别使用互相不同的参考光的入射角{θ}。

5.根据权利要求4所述的全息存储装置或系统，其中，

当奇数轨道中的全息图上的参考光的入射角{θ}被设置为入射角{θ}＝[θ₁，θ₂，...，θ_K，...，θ_M](M是2或更大的整数)时，第k个入射角θ_K被设置为对应于第二零位角度的角，其中在第二零位角度，当入射角从入射角θ_K-1改变时，奇数轨道中的第k个全息图的恢复光量第二次变为接近零或最小值；及

偶数轨道中的全息图上的参考光的第k个入射角θ’被设置为对应于第一零位角度的角，其中在第一零位角度奇数轨道中的第k个全息图的恢复光量第一次变为接近零或最小值。

6.一种全息存储装置或系统，包括：

激光源；

由从激光源发出的光束形成信号光和参考光的光学元件；

调制信号光的空间光调制器；

光学信息记录介质，将由空间光调制器调制的信号光和参考光之间的干涉引起的干涉条纹记录为全息图；

引起光学信息记录介质中的由空间光调制器调制的信号光和参考光之间的干涉的光学系统；

参考光角度控制部件，用于控制参考光在光学信息记录介质上的入射角；及

光学检测器，检测来自光学信息记录介质的恢复光；

其中，

在全息图记录和恢复装置中，参考光角度控制部件使参考光以多个不同的入射角[θ₁，θ₂，...，θ_M](M是2或更大的整数)入射到光学信息记录介质上的实质上相同的位置，并且根据光学信息记录介质上的位置改变参考光的入射角{θ}。

7.根据权利要求6所述的全息存储装置或系统，其中，参考光角度控制部件对于光学记录介质上的每一个位置改变参考光的入射角{θ}。

8.根据权利要求6所述的全息存储装置或系统，其中，参考光角度控制部件使用三组或更多参考光的入射角{θ}。

9.根据权利要求1所述的全息存储装置或系统，其中，

参考光的入射角信息记录在全息图记录和恢复装置、光学信息记录介质以及容纳光学信息记录介质的盒体中包括的预定的记录部件的任意一个中；及

参考光角度控制部件基于参考光的入射角信息来控制参考光的入射角{θ}。