[发明专利]微生物分析系统无效

专利信息
申请号: 200810166705.5 申请日: 2008-10-17
公开(公告)号: CN101413022A 公开(公告)日: 2009-04-22
发明(设计)人: B·昂热尔;P·盖东;S·奥利维耶 申请(专利权)人: 米利波尔公司
主分类号: C12Q1/04 分类号: C12Q1/04;G01N21/76
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王 琼
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 微生物 分析 系统
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种微生物分析系统,用于分析载体(support)例如微孔薄膜过滤单元,从而检测在那些载体上是否存在微生物。

背景技术

分析这种载体的一种方法包括:第一阶段,在载体上作用,以使得微生物包含的生物材料可以接近,这是通过将它们加热到它们的裂解温度来实现的,在裂解温度,它们的包膜被破坏。

然后在那些载体上沉积试剂,试剂与因此变得可以接近的微生物含有的成分发生反应。

例如可以检测广谱(universal)新陈代谢指示器,微生物中含有的最普通的腺苷三磷酸盐(ATP),通过将它与一种试剂相接触,该试剂通过发光揭示出ATP的存在(称为“生物发光试剂”),所述发光使得能够注意到微生物的存在,同时不必等待菌落(colony)形成在凝胶生长介质上并变得肉眼可见。

发射的光的量是ATP的质量的函数并因此是微生物数目的函数。

特别是从欧洲专利申请1826548中可以获知一种机器,其包括微波腔,其中接纳有待加热的载体,从而进行它包括的微生物的裂解。

发明内容

本发明涉及提供一种分析系统,包括相同类型的机器,但是同时提供更好的性能,并且更加可靠和多价(polyvalent)。

为此,提供一种微生物分析系统,其特征在于,它包括:

-载体,适用于在平坦表面的附近保持微生物,所述载体是预定的类型,特定的结构准则与所述预定类型相关联;和

- 分析机,包括:

    - 磁控管;

    - 微波腔,连接到所述磁控管,并设置成在谐振模式工作;

    - 用于接纳所述载体的容座,设置成在所述腔中在预定位置接纳所述载体,从而在所述位置至少在所述平坦表面的附近加热所述载体;

    - 阻挡件,用于调节所述腔的谐振模式,所述阻挡件部分地进入所述腔中,所述阻挡件取决于所述预定类型而处于预定的方位;

    - 用于识别所述特定结构准则的装置;和

    - 控制单元,连接到所述磁控管和所述识别装置,并且适用于对于所述载体验证是否满足所述特定的结构准则,并且如果不满足的话拒绝开始分析循环。

待分析载体在微波腔中的存在影响了波的传播,谐振模式在腔中的建立因此取决于待分析的载体的类型。

用于调节谐振模式的阻挡件因此设置成根据待分析载体的类型来调节所述腔中的谐振模式,对于给定类型的载体,阻挡件的位置例如提前通过所述腔的校准而建立,是在载体存在的情况下。

因此,在根据本发明系统中,通过识别装置,控制单元验证待分析的载体实际上是要被分析的那些类型,从而确定可以高效地加热所述载体。如果不是这种情况,那么控制单元不会开始任何分析循环,从而避免错误负面的风险。

根据本发明的系统因此确保了可以性能良好地加热载体以及可靠的分析。

根据对于制造商和使用来说由于简化和方便而言优选的特征,所述机器还包括用于使所述阻挡件在所述腔中运动的装置,所述控制单元同样连接到所述运动装置,并适用于命令所述运动装置以改变在所述载体的加热过程中所述阻挡件在所述腔中的位置。

在加热过程中,阻挡件的运动使得可以补偿载体上水的蒸发,因为蒸发否则将会在一些情况中造成这样的风险,即使得所述腔失调(其将不再在谐振状态中工作)。

根据与上述相同的原因而优选的其它特征,所述识别装置适用于识别多个特定的结构准则,每个结构准则都与载体的相应预定类型相关联,并且所述机器还包括用于将所述阻挡件在所述腔中运动的装置,所述单元包括存储器,存储器中对于每个预定类型记录有所述阻挡件的预定方位,所述单元同样连接到所述运动装置,并适用于:

- 对于待分析的载体验证是否满足其中一个所述结构准则;

- 如果不满足则拒绝开始分析循环;

- 并且如果满足,并且如果所述阻挡件还没有处于所述存储器中记录的、并与载体的预定类型相关联的预定方位,其中满足了所述载体预定类型的结构准则,那么命令所述运动装置从而使得所述阻挡件在所述腔中处于所述预定方位。

因此,当机器用于分析多个不同类型的载体时,控制单元与识别装置和运动装置配合从而能够确保所述腔在谐振模式工作,这是通过根据所识别的载体预定类型来适配阻挡件的位置而实现的。

根据其它优选特征:

- 所述控制单元还适用于在所述载体的加热过程中命令所述运动装置以改变所述阻挡件在所述腔中的方位;

- 每个结构准则是这样的准则,即属于相对应类型的载体的结构参数的预定范围;

- 所述结构参数是所述载体的高度;

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