[发明专利]电子元件的测量方法及其测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量方法，特别涉及一种电子元件的测量方法及其测量 装置。

背景技术

线上测试仪(in circuit tester；ICT)是一台静态元件测试仪，并且其能 准确、高速地测量印刷电路板(printed circuit board；PCB)上已安装元件的 不良问题，例如：元件的漏焊、错焊、装反、空焊和原料不良，以及印刷电 路板上线路之间的开路和短路等。可以用线上测试仪进行量测的元件包括： 电阻、电容、二极管、三极管、电感、变压器、和集成电路(integrated circuit； IC)等绝大多数电子元件。

目前，线上测试仪是一种广泛应用于线路板组装过程中的检测设备。线 上测试仪所运用的测试方法主要是在于零组件隔离，即当对某个待测元件进 行测试时，使待测元件能不受到与此待测元件相连的其它元件的影响。换言 之，线上测试仪具有隔离(guarding)功能，而此隔离的作用是使待测元件 在测试时不受旁路元件的影响。

一般来说，在设计印刷电路板时，会在印刷电路板的线路上设计有一些 测试点。传统上，在进行测试时，线上测试仪的针床会顶在待测的印刷电路 板上，并且印刷电路板上的每一个功能模块的电路会对应线上测试仪的一个 测试电路模块。当待测的印刷电路板复杂且庞大时，线上测试仪上对应的测 试电路模块就会随之功能冗余、机构复杂、不便于灵活地兼容其他种类的待 测的印刷电路板，并且也不便于维护。

因此如何能提供一种简易、准确的测量方法及其测量装置，成为研究人 员待解决的问题之一。

发明内容

鉴于以上的问题，本发明提供一种电子元件的测量方法及其测量装置， 通过简易的电路结构以及软件计算程序，来量测待测电子元件的数值，借以 提升测量装置的维护便利性，以及降低测量装置的成本。

因此，本发明所公开的电子元件的测量方法，包含有下列步骤：提供时 钟脉冲发生器、中央处理器与相位检测器，并形成一电性回路；将第一待测 电子元件连接于时钟脉冲发生器；提供电源给时钟脉冲发生器，以产生一时 钟脉冲信号；中央处理器根据时钟脉冲信号的频率值计算出第一待测电子元 件的数值；将第二待测电子元件连接于时钟脉冲发生器；使时钟脉冲信号通 过第二待测电子元件，以产生一相位移时钟脉冲信号；通过相位检测器取得 相位移时钟脉冲信号的相位；及中央处理器根据相位移时钟脉冲信号的相位 与时钟脉冲信号的相位计算出第二待测电子元件的数值。

另外，本发明所公开的电子元件的测量装置，包含有：时钟脉冲发生器， 用以接收一电源，以产生一特定频率的时钟脉冲信号；第一待测电子元件， 与时钟脉冲发生器电性连接；中央处理器，与时钟脉冲发生器电性连接，中 央处理器接收时钟脉冲发生器输出的时钟脉冲信号，并根据时钟脉冲信号的 频率计算出第一待测电子元件的数值；第二待测电子元件，分别与信号放大 器和中央处理器电性连接；及相位检测器，分别与第二待测电子元件和中央 处理器电性连接，相位检测器用以检测一相位移时钟脉冲信号与时钟脉冲信 号的相位差，以供中央处理器根据时钟脉冲信号的相位与相位移时钟脉冲信 号的相位，计算出第二待测电子元件的数值。

通过这种电子元件的测量方法及其测量装置，利用时钟脉冲发生器、中 央处理器与相位检测器所组成的电路结构，配合软件程序计算出待测电子元 件的数值，相较于以往线上测试仪的电路结构较为简易，另外，由于测量装 置的组成元件较少，因此，维护上也较为方便，特别是制造成本也较低。

有关本发明的特征与实施方式，现配合附图作优选实施例详细说明如 下。

附图说明

图1为本发明的测量装置的系统方块图；

图2A为本发明的时钟脉冲发生器第一实施例的电路示意图；

图2B为本发明的时钟脉冲发生器第二实施例的电路示意图；及

图3为本发明的方法步骤流程图。

并且，上述附图中的附图标记说明如下：

1   引脚

2   引脚

3   引脚

4   引脚

5   引脚

6   引脚

7   引脚

8   引脚

10  时钟脉冲发生器

11  555芯片

20  第一待测电子元件