[发明专利]从批式热处理装置的石英制构件中除去金属杂质的方法有效

专利信息
申请号: 200810168649.9 申请日: 2008-08-08
公开(公告)号: CN101372739A 公开(公告)日: 2009-02-25
发明(设计)人: 渡边将久;石井胜利;柴田哲弥 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44;H01L21/20;H01L21/205
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 热处理 装置 石英 构件 除去 金属 杂质 方法
【权利要求书】:

1.一种用于在批式热处理装置中从石英制构件中除去金属杂质的 方法,其特征在于:

所述装置包括:

在垂直方向上有间隔地收纳多个被处理基板并形成热处理气氛的 处理容器,所述处理容器具有露出在所述热处理气氛中的石英制内表 面;

对所述处理容器内进行加热的加热器;

对所述处理容器内进行排气的排气系统;和

将处理气体供向所述处理容器内的处理气体供给系统,

所述方法包括:

在没有收纳作为产品的被处理基板的所述处理容器内收纳用于使 作为所述金属杂质的铝附着的多个伪基板的工序,所述伪基板具有硅 表面;

接着,通过向所述处理容器内供给含有氯的气体和水蒸气,并将 所述处理容器的所述石英制内表面加热至处理温度,对所述石英制内 表面实施烘焙处理,使铝从所述石英制内表面释放并附着在所述伪基 板上,使铝与作为所述伪基板的材料的硅结合的工序;和

接着,将附着有所述金属杂质的所述伪基板从所述处理容器内搬 出的工序,

通过交换伪基板对所述石英制内表面重复进行所述烘焙处理。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:

所述处理温度为550℃~1200℃。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:

所述含有氯的气体包括氯化氢气体。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于:

包括对附着在被搬出的所述伪基板上的所述金属杂质的浓度进行 测量的工序,通过交换伪基板对所述石英制内表面重复进行所述烘焙 处理,直到所述浓度为目标值以下。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,包括:

在所述烘焙处理后,利用氧气对所述处理容器内进行吹扫的工序。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于:

所述装置设置有以保持所述被处理基板的方式构成且包括石英制 部分的保持部件,

所述方法通过将所述伪基板保持在所述保持部件中的状态下收纳 在所述处理容器内,并对所述保持部件的所述石英制部分也实施所述 烘焙处理,使所述金属杂质从所述石英制部分释放并附着在所述伪基 板上。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于:

所述装置设置有包括在所述处理容器内露出在所述热处理气氛中 的石英制部分的规定部件,

所述方法通过将所述规定部件与所述伪基板一起收纳在所述处理 容器内,并对所述规定部件的所述石英制部分也实施所述烘焙处理, 使所述金属杂质从所述石英制部分释放并附着在所述伪基板上。

8.一种用于在批式热处理装置中从石英制构件中除去金属杂质的 方法,其特征在于:

所述装置包括:

在垂直方向上有间隔地收纳多个被处理基板并形成热处理气氛的 处理容器;

包括在所述处理容器内露出在所述热处理气氛中的石英制部分的 规定部件;

对所述处理容器内进行加热的加热器;

对所述处理容器内进行排气的排气系统;和

将处理气体供向所述处理容器内的处理气体供给系统,

所述方法包括:

在没有收纳作为产品的被处理基板的所述处理容器内收纳用于使 作为所述金属杂质的铝附着的多个伪基板和所述规定部件的工序,所 述伪基板具有硅表面;

接着,通过向所述处理容器内供给含有氯的气体和水蒸气,并将 所述规定部件的所述石英制部分加热至处理温度,对所述石英制部分 实施烘焙处理,使铝从所述石英制部分释放并附着在所述伪基板上, 使铝与作为所述伪基板的材料的硅结合的工序;和

接着,将附着有所述金属杂质的所述伪基板从所述处理容器内搬 出的工序,

通过交换伪基板,对所述石英制部分重复进行所述烘焙处理。

9.如权利要求8所述的方法,其特征在于:

所述处理温度为550℃~1200℃。

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