[发明专利]存储器装置及其操作存储器的方法有效

专利信息
申请号: 200810170464.1 申请日: 2008-11-06
公开(公告)号: CN101430931A 公开(公告)日: 2009-05-13
发明(设计)人: 蔡文哲;欧天凡;黄竣祥 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: G11C16/06 分类号: G11C16/06;G11C16/08
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 存储器 装置 及其 操作 方法
【权利要求书】:

1.一种操作一存储器的方法,该存储器具有多个存储器单元,每一 存储器单元具有一第一源极/漏极区以及一第二源极/漏极区,而该第一源 极/漏极区与相邻的一存储器单元共享,其特征在于,该方法包括:

导通该多个存储器单元的一第一存储器单元的第二源极/漏极区与多 个存储器单元的一第二存储器单元的第二源极/漏极区之间的所有通道;

施加一第一电压至该第一存储器单元的第二源极/漏极区并施加一第 二电压至该第二存储器单元的第二源极/漏极区,以程序化该第一存储器单 元,其中第一电压不等于第二电压;以及

施加一电子流至该第一存储器单元的第二源极/漏极区与该第二存储 器单元的第二源极/漏极区之间的至少一第一源极/漏极区;

其中,施加该电子流包括:

施加一第三电压至该存储器的一开关的一第一电极,以开启该开 关;以及

施加该第二电压至该开关的一第二电极,以产生该电子流;

其中该开关的第二电极通过一第一位线耦接至该第二存储器单 元的第二源极/漏极区,该开关的一第三电极通过一第二位线耦接至该 第二存储器单元的第一源极/漏极区,而该电子流是经由该第二位线施 加至该第一存储器单元与该第二存储器单元之间的第一源极/漏极区。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,该第一存储器单元的 通道内的电子流大于该第二存储器单元的通道内的电子流。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,被施加该电子流的该 第一源极/漏极区为该第一存储器单元和该第二存储器单元所共享。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,被施加该电子流的该 第一源极/漏极区属于该多个存储器单元的一第三存储器单元,该第三存储 器单元介于该第一存储器单元和该第二存储器单元之间。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,被施加该电子流的该 第一源极/漏极区处于浮接的状态。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,施加该电子流包括:

施加一第三电压至该存储器的一第一开关的一第一电极,以开启该第 一开关;以及

施加一第四电压至该第一开关的一第二电极,以产生该电子流;

其中该第一开关的一第三电极通过一位线耦接至被施加该电子流的 该第一源极/漏极区。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,施加该电子流包括:

施加一第五电压至该存储器的一第二开关的一第一电极,以开启该第 二开关并使该第一电压被施加到该第一存储器单元的第二源极/漏极区;以 及

施加一第六电压至该存储器的一第三开关的一第一电极,以开启该第 三开关并使该第二电压被施加到该第二存储器单元的第二源极/漏极区;

其中该第三电压小于该第五电压以及该第六电压。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当程序化该第一存储 器单元时,一负电压施加至一衬底,而该多个存储器单元形成在该衬底上。

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