[发明专利]光测量装置和扫描光学系统

说明书

相关申请的交叉参考

本发明包含于2007年10月30日向日本专利局提交的日本专利申请JP2007-281369的主题，其全部内容结合于此作为参考。

技术领域

此发明涉及一种用于测量诸如平面光源的亮度、色度等与光有关的量值的光测量装置以及可以由于光测量装置中的扫描光学系统。

背景技术

已知一种技术，其中，为了测量平面光源的亮度分布，色度分布等，连续测量在平面光源的不同部分(诸如，中心部分、外围部分等)的诸如亮度、色度等物理量值或心理物理量值。日本专利公开第2004-93326号(下文中称为专利文件1)披露了一种用于收集诸如纸幅板的幅板的光学信息的收集装置。该收集装置包括用于使来自幅板的不同部分的光偏转以执行幅板的扫描的电流镜面、用于使被电流镜面偏转的光从其透射的两个缝隙、以及用于分析被两个缝隙透射的光的光谱的分光计。在使用专利文件1中所披露的技术的情况下，可以从一个位置(即，从视点)开始执行来自平面光源的光的测量。

发明内容

在专利文件1所披露的技术中，可以足够充分高的精确度来执行平面光源的亮度等的测量。例如，虽然在专利文件1中未描述两个缝隙的大小，但是存在以下可能性，在透射过两个缝隙的光的横截面中，虽然外围侧上的光通量很小，但是中心侧上的光通量可能很大，从而导致无法确保亮度测量等的精确度。另外，如果过分减小缝隙的大小，那么被阻挡的光通量变大到以致于难以测量光。因此，当采用来自平面光源的不同部分的光来执行测量时，重要的是抑制光的横截面中由用于取入光的光学系统引起的光通量密度的不均匀性的出现或将光有效地导入检测器。

因此，需要提供一种用于测量诸如平面光源的亮度、色度等与光有关的量值的光测量装置以及可用于该光测量装置的扫描光学系统。

根据本发明的实施例，提供了一种用于测量来自平面光源的光的光测量装置，包括：空间分割装置，被配置为执行用于连续取入来自平面光源的不同部分的光的操作；光学聚集装置，被配置为聚集通过空间分割装置的操作取入的来自平面光源的不同部分的光；以及检测器，被配置为接收由光学聚集装置聚集的光并输出对应于所接收光的信号。

优选地，该光学聚集装置包括：其中已形成有第一开口的第一隔膜元件，该第一开口透射来自平面光源的不同部分中的任一部分的光，同时限定光的横截面；其中已形成有第二开口的第二隔膜元件，第二开口的开口面积小于第一开口的开口面积，该第二开口透射通过第一隔膜元件透射的光，同时限定光的横截面；以及聚集光学元件，被配置为使通过第二隔膜元件透射的光聚集于检测器的光接收面上。

作为替代，光学聚集装置可以包括：其中已形成有开口的隔膜元件，该开口透射来自平面光源的不同部分中的任一部分的光，同时限定光的横截面；以及远心透镜，被配置为接收从隔膜元件向其透射并在其与隔膜元件相邻的侧面上远心聚焦的光。

在此实例中，优选地，光测量装置包括：中继光学元件，被配置为将从远心透镜出射的光聚集在检测器的光接收面上。

作为另一个替代，光学聚集装置可以包括：其中已形成有第一开口的第一隔膜元件，第一开口透射来自平面光源的不同部分中的任一部分的光，同时限定光的横截面；目标光学元件，被配置为聚集通过第一隔膜元件透射的光；以及第二隔膜元件，位于目标光学元件的后侧上的焦点处，且其中已形成有第二开口，第二开口透射通过目标光学元件聚集的光，同时限定光的横截面。

在此实例中，优选地，光学测量装置还包括：中继光学元件，被配置为使通过第二隔膜元件透射的光聚集在检测器的光接收面上。

优选地，光测量装置还包括：扩散器，被配置为接收由光学聚集装置聚集并向其投射的光，检测器，以与扩散器间隔预定距离的关系放置，以使扩散器中投射有光的区域包括在检测器可以取入光的角度中。

优选地，光测量装置还包括：定位光源，能够响应于空间分割装置的操作，将光连续投射到平面光源的不同部分；以及控制装置，能够存储当来自定位光源的光投射到平面光源上提供的标记上时的位置，并被配置为控制空间分割装置，以基于所存储的位置连续偏转来自平面光源的不同部分的光。

根据本发明的另一个实施例，提供了一种用于部分提取来自平面光源的光的扫描光学系统，包括：空间分割装置，被配置为连续取入来自平面光源的不同部分的光；以及光学聚集装置，被配置为聚集通过空间分割装置的操作区域的来自平面光源的不同部分的光。

使用该光测量装置和扫描光学装置，可以有效取入来自平面光源的不同部分的光来执行测量。

附图说明

图1是示出了根据本发明的第一实施例的光测量装置的概括配置的示意图；