[发明专利]信息存储装置和存储介质有效
申请号: | 200810170700.X | 申请日: | 2008-10-30 |
公开(公告)号: | CN101425299A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | 渡部隆夫;新谷俊通;前田武志;广常朱美;关口知纪 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G11B7/00 | 分类号: | G11B7/00;G11B9/00;G11B11/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信息 存储 装置 介质 | ||
技术领域
本发明涉及信息存储装置,特别是涉及适合于三维地存储信息的存储装置。
背景技术
处理图像和声音等数字信息的装置的高性能化急速发展,伴随与此,存储数字信息的信息存储装置也显著进步。作为代表的信息存储装置,有半导体存储器(Semiconductor Memory)、硬盘(A HardDisk)、光盘(An Optical Disk)等。这些基本上是将存储信息的要素配置为二维状,此前主要是由于微细加工技术的进步,高集成化和低成本化得到了发展。但是,加工技术的微细化也渐渐变得困难起来,可以说今后很难像以前那样使高集成化和低成本化急速发展。
作为解决该问题的一个方法,可以考虑存储要素不是二维配置,而是三维配置。该例子记载于以下的文献中。
在专利文献1中记载有多层层叠平面型光波导(Planer OpticalWaveguide)的多层波导型再现专用存储卡。
在专利文献2中记载有将圆柱状的玻璃或塑料作为记录介质使用,使用计算机X射线断层摄影术(Computer tomographyTechnology)来读取信息的存储装置。
另外,在非专利文献1的第8章中记载有关于计算机X射线断层摄影术的原理的详细情况。
此外,在专利文献3的图6中记载有卷起薄片状的介质使其成为圆柱状的存储介质的形状。
[专利文献1]日本特开平11-337756号公报
[专利文献2]日本特开平06-076374号公报
[专利文献3]日本特开2006-31894号公报
[非专利文献1]デジタル ピクチヤ— プロセシング ロ—ゼンベルト、カ—ク著、アカデミツクプレス出版、第8章、353~430页(DigitalPicture Processing,Second Edition,Volume 1,AzrIel Rosenfeld,andAvinash c.Kak,Academic Pressing Inc.,section8,p.353~430)
发明内容
在专利文献1中记载将平面型光波导重叠多层的多层波导型再现专用存储卡的例子,各层的侧面对于波导平面的法线(A Normal)以45度的倾斜相交。此外,从上述法线观察,各层的上述相交面不重叠地错开。因此,从上述法线一侧(层叠的波导平面的上面),如果对想要选择的层的相交面照射光,在相交面光反射而选择的层的波导平面入射光。在选择的波导平面入射的光由在波导中形成的凹凸散射(Dispersion)。使用二维光敏元件将该散射光的发生位置作为二维图案读取。在该方式中,通过使透镜的焦点与选择的相交面一致,能读取来自选择的层的散射光的图案。
但是,如果选择离光敏元件(A Light-sensor Device)远的层,上述散射光就通过不选择的层,所以也发生非选择层的光的吸收或在凹凸的散射。该散射在层数少时,其影响不太有问题,但是如果层的数量增加,由于上述光的吸收,来自选择的层的散射光的强度就减少,而非选择层的光的散射的影响增大。因此,光敏元件的SN比下降,有可能无法读出信号。
此外,在专利文献2中记载使用圆柱状的玻璃或塑料的介质的实施例。记载在该介质的内部,三维地设置光的透射率(Transmissivity)不同的小分区,由此存储信息。关于怎样使上述小分区的光的透射率变化,即怎样写入信息,未看到具体的记述,但是,关于读出记载以下的方法。
在圆柱状介质的直径方向上入射激光束,利用在相反一侧的受光部测定其强度。然后,使圆柱状介质绕其中心轴旋转,测定透射率。这里,中心轴是指通过圆柱状介质的圆的中心的轴。根据上述一次旋转中测定的透射光的数据,通过计算处理,求出在截面圆上分布的各小区域的透射率。说明一边将圆柱在上述旋转轴方向移动,一边进行该作业,读取在圆柱内部存储的信息。在专利文献2的实施例中,激光束在圆柱的直径方向入射,所以不产生增大圆柱的旋转轴方向的长度时信号的SN比下降的问题。
但是,在该文献中记载的实施例的结构中,无法通过计算,求出在截面圆内部分布的全部小区域的透射率。其原因在于,在圆柱的直径方向配置激光束的发光部、受光部。即使将圆柱旋转一次,也只测定直径方向的透射率。如所知道的那样,在通过计算,求出截面结构的计算机X射线断层摄影术中,不仅需要通过中心的直径方向的线的信息,也需要与它平行的多个线的透射率。因此,在专利文献2的结构中,无法正确读取在圆柱状介质分布为三维的数据。关于计算机X射线断层摄影术的原理,在非专利文献1的第8章中记载。
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