[发明专利]平面显示面板的测试方法、使用该方法的装置及测试组件无效
申请号: | 200810170875.0 | 申请日: | 2008-10-20 |
公开(公告)号: | CN101726876A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 王朝顺;刘守桦 | 申请(专利权)人: | 美科乐电子股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01R31/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 任永武 |
地址: | 中国台湾桃园市龟*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平面 显示 面板 测试 方法 使用 装置 组件 | ||
1.一种平面显示面板的测试方法,是利用以将测试组件触靠在待测试平面显示面板上的待测试电极区域上来产生电性连接、另一方面也将共享组件靠接在待测试共享电极区域上来产生电性连接的方式,来进行接触后,施加测试信号至平面显示面板上,来进行测试;其特征在于包含:
选定测试组件手段,是以测试组件的长边方向大小略等于待测试电极区域的长边方向大小的方式来选定测试组件;
选定共享组件手段,是以该共享组件的底部接触面积接触到待测试共享电极区域的面积达一定比例的方式来选择共享组件;
安装组件手段,是把测试组件利用定位构件安装在固定构件上,把共享组件安装于共享固定构件上。
2.如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法,其特征在于:
还包含有定位手段,是利用照准组件,以所述定位构件上的定位对准部来对准所述待测试平面显示面板上的定位标记部的方式,来完成定位。
3.如权利要求2所述的平面显示面板的测试方法,其特征在于:
所述照准组件为光学显微机构。
4.如权利要求2所述的平面显示面板的测试方法,其特征在于:
所述照准组件为光学激光头。
5.如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法,其特征在于:
所述测试组件是由可挠性导电材料所构成。
6.如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法,其特征在于:
所述测试组件是由非可挠性导电材料所构成。
7.如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法,其特征在于:
所述共享组件是由可挠性导电材料所构成。
8.如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法,其特征在于:
所述共享组件是由非可挠性导电材料所构成。
9.如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法,其特征在于:
在所述安装组件手段中,是利用规制部来规制测试组件与定位构件的相对位置,把测试组件与定位构件做凹凸配合后装配在一起后,利用导引孔与导引销做固定构件与定位构件的导引定位后,再利用螺固方式把定位构件固定在固定构件上。
10.如权利要求1所述的平面显示面板的测试方法,其特征在于:
在所述安装组件手段中,是利用规制部来规制测试组件与定位构件的相对位置,把测试组件与定位构件做凹凸配合后装配在一起后,利用卡合方式把定位构件固定在固定构件上。
11.一种平面显示面板的测试装置,是利用以将测试组件触靠在待测试平面显示面板上的待测试电极区域上来产生电性连接、另一方面也将共享组件靠接在待测试共享电极区域上来产生电性连接的方式,来进行接触后,施加测试信号至平面显示面板上,来进行测试;其特征在于包含:
测试组件,该测试组件的长边方向大小略等于待测试电极区域的长边方向大小;
定位构件,把所述测试组件利用该定位构件安装在固定构件上;
固定构件,是用来固定定位构件及测试组件。
12.如权利要求11所述的平面显示面板的测试装置,其特征在于还包含:
共享组件,该共享组件的底部接触面积接触到待测试共享电极区域的面积达一定比例;
共享固定构件,是用于安装共享组件。
13.如权利要求11或12所述的平面显示面板的测试装置,其特征在于:
所述定位构件还包含有定位对准部,是利用照准组件,以所述定位对准部来对准所述待测试平面显示面板上的定位标记部的方式,来完成定位。
14.如权利要求13所述的平面显示面板的测试装置,其特征在于:
所述照准组件为光学显微机构。
15.如权利要求13所述的平面显示面板的测试装置,其特征在于:
所述照准组件为光学激光头。
16.如权利要求11或12所述的平面显示面板的测试装置,其特征在于:
所述测试组件是由可挠性导电材料所构成。
17.如权利要求11或12所述的平面显示面板的测试装置,其特征在于:
所述测试组件是由非可挠性导电材料所构成。
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