[发明专利]平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法，特别是涉及一种能够在点亮测试过程中同时检测显示区与驱动电路之间的线路是否存在短路或断路的平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法。

背景技术

由于平面显示面板具有体积小、重量轻等优点，因此目前已被广泛地应用于各种电子产品中。

在平面显示面板的制造过程中，通常会于尚未将驱动IC连接至显示面板前，先对显示面板进行点亮测试，以确认显示面板中的各个像素是否能够正常显示画面。图1绘示为现有习知平面显示面板的示意图。请参阅图1所示，平面显示面板100具有显示区102与周边电路区104，其中显示区102内配置有多个像素单元110，周边电路区104内则配置有点亮测试线路120、接垫130以及信号导线140。

信号导线140是电性连接于接垫130与显示区102内的像素单元110之间，也就是所谓的扇出(fan-out)拉线。其中，每条信号导线140均分别电性连接至单一像素单元110。点亮测试线路120则是与显示区102内的所有像素单元110电性连接，也就是说测试信号是由点亮测试线路120输入至所有像素单元110，以同时对所有像素单元110做点亮测试。

由上述可知，在现有习知的点亮测试过程中，测试信号是直接经由点亮测试线路120输入至显示区102内的像素单元110，而信号导线140是否存在缺陷须待后续将用以驱动像素单元110的驱动IC(图未示)接合(bond)至接垫130上才会发现，但这期间往往已耗费了许多人力与物力。

由此可见，上述现有的平面显示面板及其点亮测试方法在产品结构、制造方法与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

有鉴于上述现有的平面显示面板及其点亮测试方法存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新的平面显示面板及其有源元件阵列基板与点亮测试方法，能够改进一般现有的平面显示面板及其点亮测试方法，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。

发明内容

本发明的目的在于，克服现有的平面显示面板存在的缺陷，而提供一种新的有源元件阵列基板，所要解决的技术问题是使其具有可在点亮测试过程中同时进行信号导线缺陷检测的线路配置，非常适于实用。

本发明的另一目的在于，克服现有的平面显示面板存在的缺陷，而提供一种新的平面显示面板，所要解决的技术问题是使其在点亮测试过程中可同时进行信号导线的缺陷检测，从而更加适于实用。

本发明的再一目的在于，克服现有的平面显示面板的点亮测试方法存在的缺陷，而提供一种新的点亮测试方法，所要解决的技术问题是使其便于在平面显示面板的点亮测试过程中同时进行信号导线的缺陷检测，从而更加适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种有源元件阵列基板，具有一显示区与一周边电路区，该有源元件阵列基板包括：多个第一像素单元与多个第二像素单元，阵列地排列于该显示区内；一第一点亮测试线路，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些第一像素单元；以及一第二点亮测试线路，配置于该周边电路区内，并电性连接至该些第二像素单元；以及多组信号导线群，配置于该周边电路区内，其中两相邻的该些信号导线群是分别电性连接于该第一像素单元与该第二像素单元其中之一。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的有源元件阵列基板，其中所述的信号导线群各包括一信号导线，且各该信号导线位于同一膜层。

前述的有源元件阵列基板，其中所述的信号导线群各包括多条分别位于不同膜层的信号导线。

前述的有源元件阵列基板，其更包括：一第三点亮测试线路，配置于该周边电路区内；以及多个接垫，其中该些接垫的一端是电性连接至该第三点亮测试线路，而该些接垫的另一端是电性连接至该些信号导线群。

前述的有源元件阵列基板，其中所述的多个接垫为驱动晶片接垫。