[发明专利]读取二维像素矩阵的方法及实施这种方法的设备无效
申请号: | 200810171783.4 | 申请日: | 2008-10-23 |
公开(公告)号: | CN101431597A | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 阿诺·韦尔当 | 申请(专利权)人: | 原子能委员会 |
主分类号: | H04N3/15 | 分类号: | H04N3/15;H04N5/335 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高少蔚;席 兵 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 读取 二维 像素 矩阵 方法 实施 这种方法 设备 | ||
技术领域
本发明总体上涉及次分辨率模式(subresolution mode)下的图像传 感器读出领域,其中特别涉及对来自所述传感器的图像流中的目标进行检 测和跟踪的情形。
更具体而言,本发明涉及用于读取图像传感器的二维像素矩阵的方法 和设备,其中,像素矩阵以构成宏像素的像素块来组织,每一个宏像素可 以在高分辨率模式和/或低分辨率模式下读取。
现有技术
在感测应用期间,或者对于用数字相机跟踪移动对象来说,通常使用 一种被称之为“次分辨率”模式的模式来读取传感器。
在本发明的上下文中,移动意指图像的一部分的亮度的快速大幅变 化,而所述变化主要是由真实世界的实际移动的对象,或者由像例如闪光 灯的光源的亮度变化引起的。
这种类型的“次分辨率”读出在于,将相机光敏元件或像素的二维矩阵 细分成块(称作“宏像素”),并且在于读取包括移动对象的预定矩阵区域 的宏像素的所有像素(称作高分辨率读出模式)。而其它宏像素则以低分 辨率模式读取,该低分辨率模式在于例如只读取每个宏像素的一个像素。
这样,对所关心的宏像素进行高分辨率读出,而对其它宏像素进行低 分辨率读出的这种组合读出模式,就具有充分减少待处理数据的量的效 果。从而降低了功耗,并减少了对计算资源的需求。
这样一种读出模式在例如文件US-A-2004/0095492中有述。在该文件 中,对目标对象使用高分辨率。例如,检测模式被用来在图像中找到光斑, 以及确定以高分辨率或低分辨率来读取其单元。然后,通过基于以高分辨 率模式所读取的像素来分析移动,确定对高分辨率区域的更新。
对移动对象的检测或跟踪在使用具有热辐射测量传感器的数字相机 来进行红外观察的领域具有具体的应用。实际上,使用这种能感测红外线 的相机,允许全天候监视诸如例如停车场一类的区域而不受时段的影响, 这一点与要求现场有充足照明的可视检测器不同。
热辐射测量传感器是以矩阵形式设置的器件,并且能够在环境温度工 作,从而不需要冷却到很低的温度。
在常规情况下,这些非冷却式传感器利用了适当材料的物理量随 300K附近的温度的变化。在热辐射测量传感器的情况下,这个物理量是 电阻率。
在常规情况下,用于红外成像的传感器以基本传感器或热辐射测量计 的矩阵的形式制成,所述矩阵通过支撑臂悬置在通常由硅制成的基板上 方。
用于对基本传感器和电激励装置进行按序寻址以及用于处理这些基 本传感器所生成的电信号的装置通常设置在基板上。这个基板和这些集成 装置通常称作“读出电路”。
观测发现,热辐射测量计的响应实际上显示出分散性(dispersion), 该分散性还随时间增强或变化。
这样,热辐射测量传感器所生成的均匀场景的图像通常并不是均匀的 图像。这种情况被称作“偏移”分散性。同样,在热辐射测量计的增益中观 测到了分散性,因为均匀变化的均匀场景的热辐射测量传感器图像是不均 匀的。
这种分散性有多种原因,但可以特别提到的是如例如在对强辐射源 (太阳、泛光灯等)的观测期间,传感器受到的高通量的照射,这种照射 引起持久余辉现象,而这种现象对传感器所传送的热图像的品质是有害 的。
还值得提到的是:在给定的一批成像热辐射测量计当中,它们的电阻 存在着固有的分散性,取决于制造时所采用的方法和材料,该分散性或多 或少是明显的。因此,从传感器的最初使用开始,它的检测特性就存在空 间上的分散性。
实际上,成像热辐射测量计的电阻与基准电阻的1%的偏差使得通过 该成像热辐射测量计所估计的场景温度产生大约10%到20%的误差。
此外,有用信号的值通常只占热辐射测量传感器的总动态范围的大约 10%,因此容易理解,热辐射传感器的检测特性的分散性严重影响到检测 质量。
一般说来,未校正的热辐射测量传感器的图像难以以视觉方式使用。
发明内容
本发明的目的是解决上述问题,提出一种用于对检测器矩阵进行次分 辨率读出的方法,该方法基本上消除了所述传感器的检测特性的分散性的 影响,从而使得能够容易地使用由这些传感器生成的图像,或者甚至以可 视的方式使用这些图像。
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