[发明专利]光拾取器装置及光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及光拾取器装置及光盘装置。

背景技术

作为本技术领域的背景技术，例如，存在日本专利特开 2006-344344号公报(以下称为专利文献1)。在该公报中记载了“从具 有多个记录层的光盘高精度地取得所希望的信号”。而且，还存在日本 专利特开2006-344380号公报(以下称为专利文献2)。在该公报中记 载了“即使是在使用具有2个信息记录面的光存储介质的情况下，也 能够检测出偏移量(オフセット)小的跟踪误差信号”。进而，例如在 电子信息通信学会信学技术报CPM20005-149(2005-10，第33页， 图4、图5)(以下称为非专利文献1)中，记载了“将跟踪用光盘配置 于其他层没有杂散光的区域”。

在专利文献1中，其结构为，由聚光透镜聚焦光盘所反射的光束， 由聚光透镜使透过2枚1/4波长板与偏光光学元件而扩展的光聚集，照 射于检测器。因此，具有检测光学体系复杂，尺寸增大的担忧。在专 利文献2中，由于是在激光光源后配置3点生成用的衍射光栅，在盘 上照射有1个主光点与2个次光点，所以存在记录所必要的主光束的 利用率下降的担忧。

在非专利文献1中，由于是在聚焦用光检测器周围生成的聚焦用 光束的来自其他层的杂散光的外侧配置跟踪用光检测器，进而使全息 摄影元件的中央部所衍射的光从来自其他层的杂散光的外侧飞出的结 构，所以有关测器的尺寸增大的担忧。

发明内容

本发明的目的在于，提供即使是在对具有多个记录面的信息存储 介质进行记录再现的情况下，也能够得到稳定的伺服信号的光拾取器 装置及装载有该光拾取器装置的光盘装置。

上述目的，可以通过权利要求中所述的发明而达到。

本发明提供一种光拾取器装置，其包括：射出光束的半导体激光 器；用于将从上述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光盘的物镜； 对从上述光盘反射的光束进行分光的衍射光栅；和具有多个接受通过 上述衍射光栅分光的光束的受光面的光检测器，其中，上述衍射光栅 具有区域A、区域B、和区域C这三个区域，由上述光盘上的轨道所 衍射的衍射光中，只有0次衍射光入射到上述区域A，0次、±1次衍 射光入射到上述区域B，在上述光检测器中，从在上述区域A、B、C 衍射的光束检测出再现信号，对在上述衍射光栅的区域A衍射的+1次 衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应上述光盘 的轨道的方向大体垂直的方向或大体平行的方向上。

根据本发明，还提供一种光拾取器装置，其包括：射出光束的半 导体激光器；用于将从上述半导体激光器射出的光束聚光并照射到光 盘的物镜；对从上述光盘反射的光束进行分光的衍射光栅；和具有多 个接受通过上述衍射光栅分光的光束的受光面的光检测器，其中，上 述衍射光栅具有区域A、区域B、和区域C这三个区域，由上述光盘 上的轨道所衍射的衍射光中，只有0次衍射光入射到上述区域A，0次、 ±1次衍射光入射到上述区域B，在上述光检测器中，从在上述区域A、 B、C衍射的光束检测出再现信号，对在上述衍射光栅的区域A衍射的 +1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对应上述 光盘的轨道的方向大体垂直的方向上，并且对在上述衍射光栅的区域B 衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多个受光面，排列在与对 应上述光盘的轨道方向大体平行的方向上。

根据本发明还提供一种光盘装置，其搭载有，光拾取器装置，其 包括：射出光束的半导体激光器；用于将从上述半导体激光器射出的 光束聚光并照射到光盘的物镜；对从上述光盘反射的光束进行分光的 衍射光栅；和具有多个接受通过上述衍射光栅分光的光束的受光面的 光检测器，其中，上述衍射光栅具有区域A、区域B、和区域C这三 个区域，由上述光盘上的轨道所衍射的衍射光中，只有0次衍射光入 射到上述区域A，0次、±1次衍射光入射到上述区域B，在上述光 检测器中，从在上述区域A、B、C衍射的光束检测出再现信号，对在 上述衍射光栅的区域A衍射的+1次衍射光或-1次衍射光进行检测的多 个受光面排列在与对应上述光盘的轨道的方向大体垂直的方向或大体 平行的方向上；激光器点亮电路，其驱动上述光拾取器装置内的上述 半导体激光器；伺服信号生成电路，其使用从上述光拾取器装置内的 上述光检测器检测出的信号，生成聚焦误差信号与跟踪误差信号；和 信息信号再现电路，其对记录在上述光盘的信息信号进行再现。